[发明专利]芯片视觉检测系统在审

专利信息
申请号: 201510924477.3 申请日: 2015-12-14
公开(公告)号: CN105513982A 公开(公告)日: 2016-04-20
发明(设计)人: 李志远;耿世慧;李熙春 申请(专利权)人: 重庆远创光电科技有限公司
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 尹丽云
地址: 400039 重庆市高新区石桥铺石杨路17号*** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 发明提供一种芯片视觉检测系统,利用安装有芯片的芯片框架在导轨上移动,并利用设置在导轨上的像机对芯片框架中的芯片进行拍照,从而获取芯片图像,并利用图像检测系统对芯片图像进行处理,判断芯片是否合格,本发明利用上述芯片视觉检测系统可以对芯片进行机器自动检测,克服了现有检测技术中个,采用人为判断芯片合格与否的不足,而且相比人工检测的方式,更加高效。
搜索关键词: 芯片 视觉 检测 系统
【主权项】:
一种芯片视觉检测系统,其特征在于,包括:导轨,适于提供移动路径;阻挡器,按照预设位置安装在导轨提供的移动路径上;芯片框架,包括两列相互平行的供放置芯片的安装位,适于将放置在安装位上的芯片沿导轨提供的移动路径移动以将放置在安装位上的芯片运送至预设位置;图像获取装置,包括传感器和像机,所述传感器设置于所述导轨的下方,且所述像机与所述传感器正对地设置于轨道上方,适于在芯片框架沿所述导轨移动至所述预设位置时对放置在安装位上的芯片进行拍照,并将所获取得到的芯片图像予以输出;图像检测系统,连接图像获取装置,适于将所述芯片图像输入检测模型中进行识别,以确定芯片图像所对应的芯片是否合格。
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