[发明专利]一种复合材料X射线成像灵敏度的替代性测定方法有效
申请号: | 201510922850.1 | 申请日: | 2015-12-11 |
公开(公告)号: | CN105572152B | 公开(公告)日: | 2018-07-13 |
发明(设计)人: | 胡保花;朱政;黄景兴;丁能圣 | 申请(专利权)人: | 昌河飞机工业(集团)有限责任公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04 |
代理公司: | 中国航空专利中心 11008 | 代理人: | 杜永保 |
地址: | 333002*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | 本发明属于材料检测技术,具体涉及一种复合材料X射线成像灵敏度的替代性测定方法。GJB5364《射线实时成像检测方法》与GJB1038.2A《纤维增强复合材料无损检验方法第2部分X射线照相检验》中对所使用的像质计的图样、规格虽作了相关规定,但由于复合材料的特殊制造工艺以及其组分的多样性等,使得复合材料像质计加工困难;再加上复合材料的多相性,国内还未制作出统一的复合材料像质计。本发明提出一种能够简易、快速测定复合材料的X射线成像灵敏度方法,有效地测定复合材料成像的灵敏度。 | ||
搜索关键词: | 复合材料 灵敏度 像质计 替代性 纤维增强复合材料 射线实时成像 材料检测 快速测定 无损检验 制造工艺 多相性 有效地 图样 成像 照相 简易 多样性 检测 加工 检验 统一 | ||
【主权项】:
1.一种复合材料X射线成像灵敏度的替代性测定方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤一、针对不同的复合材料制作对应的复合材料阶梯试块以及复合材料孔型像质计;步骤二、在复合材料阶梯试块的各厚度区域分别进行测定,将复合材料孔型像质计放在阶梯试块上,采用X射线成像检测技术对被测体进行透照,调整透照电压,使得成像后的检测灵敏度满足2‑2T,将复合材料孔型像质计替换为金属线型像质计,在同样透照条件下,观察成像中的最细金属丝,以该最细金属丝作为复合材料在金属线型像质计下的X射线成像灵敏度;步骤三、针对不同复合材料在不同厚度下的检测数据建立关联数据库,即可采用金属线型像质计对不同复合材料进行灵敏度监控,来判定成像质量是否达到检测的要求。
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