[发明专利]测量回转曲面的方法在审
| 申请号： | 201510891634.5 | 申请日： | 2015-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN105466353A | 公开（公告）日： | 2016-04-06 |
| 发明（设计）人： | 汤亮 | 申请（专利权）人： | 上海现代先进超精密制造中心有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 上海顺华专利代理有限责任公司 31203 | 代理人： | 陈淑章 |
| 地址： | 200433 上海市杨*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种基于Taylor-Hobson触针式轮廓仪的装夹测量回转曲面的方法，其特征在于，首先将首个被测曲面设置于夹紧机构上，夹紧机构设置于Ta ylor-Hobson触针式轮廓仪上，然后以被测曲面水平方向最右端X2和最左端X1的差值为测量长度ΔX，调整高度方向上的坐标值以得到若干条轮廓线，找到最接近被测曲面中心点的轮廓线并保存数据，之后的被测曲面使用保存数据即可找到中心点。本发明以解决批量化生产中检测环节每次都需要去寻找回转曲面的中心的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 回转 曲面 方法 | ||
【主权项】：
一种基于Taylor‑Hobson触针式轮廓仪的装夹测量回转曲面的方法，其特征在于，首先将首个被测曲面设置于夹紧机构上，夹紧机构设置于Taylor‑Hobson触针式轮廓仪上，然后以被测曲面水平方向最右端X2和最左端X1的差值为测量长度ΔX，调整高度方向上的坐标值以得到若干条轮廓线，找到最接近被测曲面中心点的轮廓线并保存数据，之后的被测曲面使用保存数据即可找到中心点。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海现代先进超精密制造中心有限公司，未经上海现代先进超精密制造中心有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510891634.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种LC谐振回路组合石英滤波器
- 下一篇：非接触式曲面扫描系统
