[发明专利]记录从四极滤质器发射的离子的空间和时间特性在审
| 申请号： | 201510876350.9 | 申请日： | 2015-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN105679635A | 公开（公告）日： | 2016-06-15 |
| 发明（设计）人： | J·W·史密斯;A·E·肖恩 | 申请（专利权）人： | 萨默费尼根有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/02 | 分类号： | H01J49/02 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 姬利永 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及一种记录从四极滤质器发射的离子的空间和时间特性。一种用于检测从质谱仪的质量分析器离开的一定量离子的离子检测系统，包括：(a)光子发生装置，该光子发生装置被配置为接收该量的离子并且产生与该量的离子成比例的一定量的光子；(b)集光透镜，该集光透镜被光学耦合到该光子发生装置上并且被配置为传送所生成的光子束；(c)线聚焦装置，该线聚焦装置是可操作用于将该光束的至少第一部分聚焦成线；以及(d)线性光检测器阵列，该阵列被配置为检测沿该聚焦线该所产生光子的量的变化。 | ||
| 搜索关键词： | 记录 四极滤质器 发射 离子 空间 时间 特性 | ||
【主权项】：
一种用于检测从质谱仪的质量分析器离开的一定量离子的离子检测系统，该离子检测系统包括：(a)光子发生装置，该光子发生装置被配置为接收该量的离子并且产生与该量的离子成比例的一定量的光子；(b)集光透镜，该集光透镜被光学耦合到该光子发生装置上并且被配置为传送所生成的光子束；(c)线聚焦装置，该线聚焦装置是可操作用于将该光束的至少第一部分聚焦成线；以及(d)线性光检测器阵列，该阵列被配置为检测沿该聚焦线该所产生光子的量的变化。
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