[发明专利]一种再制造复合材质零件缺陷超声检测方法

摘要

本发明公开一种再制造复合材质零件缺陷超声检测方法。该方法包括：将超声纵波(或横波)探头放在待测零件表面上，设置采样系统的增益参数，采集超声脉冲发射接收仪发射的激励脉冲信号；在零件表面上移动探头，当示波器上显示的始波信号幅值稳定时，采集始波信号；当示波器上出现缺陷信号或底波信号幅值波动明显时，采集超声脉冲发射接收仪接收到的A扫信号及底波信号；将上述信号分别传输到信号分析系统中，作快速傅里叶变换处理；用变换得到的A扫信号及激励脉冲信号相乘的结果除以始波信号平方及底波信号相乘的结果，对相除运算结果进行傅里叶逆变换分析，根据分析结果可以判定被测零件中缺陷的大小及位置。

主权项

1.一种再制造复合材质零件缺陷超声检测方法，该方法采用的检测装置包括有机玻璃楔块(1)、超声纵波直探头(2)、超声脉冲发射接收仪(3)、A/D采样系统(4)、数字示波器(5)、计算机(6)、信号处理分析系统(7)，该方法操作步骤包括：步骤1)、将有机玻璃楔块(1)及超声纵波直探头(2)放在涂有耦合液的再制造复合材质零件表面上，设置A/D采样系统(4)的检测参数增益，使数字示波器(5)上显示的第一次接收的底波信号幅值为满屏的80％，利用A/D采样系统(4)采集超声脉冲发射接收仪(3)发射的激励脉冲信号s1(t)，并将其传输到信号处理分析系统(7)中；步骤2)、以不超过150mm/s的速度在零件表面上移动探头，观察数字示波器(5)上显示的信号波形，当有机玻璃楔块(1)底面反射的始波信号及零件底面反射的底波信号比较稳定时，利用A/D采样系统(4)采集始波信号s2(t)，并将其传输到信号处理分析系统(7)中；步骤3)、扫查过程中，当观察到数字示波器(5)上显示的始波信号及底波信号之间出现缺陷回波信号，或者底波信号幅值出现变动时，利用A/D采样系统(4)采集包含缺陷回波的A扫信号s3(t)及底波信号s4(t)，并将其传输到信号处理分析系统(7)中；步骤4)、利用信号处理分析系统(7)，对步骤1)、步骤2)采集的激励脉冲信号s1(t)、始波信号s2(t)作快速傅里叶变换，得到激励脉冲频域信号s1(f)、始波频域信号s2(f)，令H(f)＝s2(f)/s1(f)；步骤5)、利用信号处理分析系统(7)，对步骤3)采集的包含缺陷回波的A扫信号s3(t)、底波信号s4(t)作快速傅里叶变换，得到包含缺陷回波的A扫频域信号s3(f)、底波频域信号s4(f)；步骤6)、利用信号处理分析系统(7)，对经过频谱相关处理的信号z(f)＝s3(f)/(H(f)s2(f)s4(f))作傅里叶反变换，得到缺陷的诊断分析图，据此可以判定被测零件中缺陷的大小及位置。