[发明专利]用于光刻工艺的护膜组件及掩模护膜系统的制造方法有效
申请号: | 201510859792.2 | 申请日: | 2015-11-30 |
公开(公告)号: | CN106547166B | 公开(公告)日: | 2020-12-01 |
发明(设计)人: | 曾俊豪;秦圣基;朱远志 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | G03F1/22 | 分类号: | G03F1/22;G03F1/62;G03F1/48 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 王芝艳;冯志云 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本公开提供制造护膜组件的方法,此方法包含在载板上方形成脱模层,在脱模层上方制造膜层,将护膜框架附着至膜层,在护膜框架附着至膜层之后,对脱模层实施脱模处理工艺将载板从膜层分开,形成护膜组件,护膜组件包含护膜框架和附着至护膜框架的膜层。 | ||
搜索关键词: | 用于 光刻 工艺 组件 掩模护膜 系统 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种用于光刻工艺的护膜组件的制造方法,包括:在一载板上方形成一脱模层;在该脱模层上方制造一膜层;将一护膜框架附着至该膜层;在该护膜框架附着至该膜层之后,对该脱模层实施一脱模处理工艺将该载板从该膜层分开;以及形成一护膜组件,该护膜组件包含该护膜框架和附着至该护膜框架的该膜层。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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