[发明专利]荧光分析用消偏振分色滤光片有效

专利信息
申请号: 201510791272.2 申请日: 2015-11-17
公开(公告)号: CN105242340B 公开(公告)日: 2019-02-05
发明(设计)人: 任少鹏;高鹏;赵帅峰;胡雯雯;吴增辉;阴晓俊 申请(专利权)人: 沈阳仪表科学研究院有限公司
主分类号: G02B5/20 分类号: G02B5/20
代理公司: 沈阳亚泰专利商标代理有限公司 21107 代理人: 郭元艺
地址: 110043 辽*** 国省代码: 辽宁;21
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明属滤光片领域,尤其涉及一种荧光分析用消偏振分色滤光片,由基底及高陡度消偏振膜系构成;其中,高陡度消偏振膜系在45度入射的条件下具备以下特征:透射区和截止区之间的波长范围小于10nm;透射区范围达到300nm以上;P光、S光在T=50%TPK处的偏振分离度小于1nm;所述高陡度消偏振膜系基本结构为:S|(αHβMγLβMαH)^n|A;其中:S为玻璃基底;A为空气;H为高折射率材料;L为低折射率材料;M为适合的中间折射率材料;H、L、M均为光学厚度为λ0/4;α、β、γ分别表示不同材料的匹配系数;n为循环次数。本发明在45度入射时具有高陡度,宽透射带,小的偏振分离度。
搜索关键词: 荧光 分析 偏振 分色 滤光
【主权项】:
1.一种荧光分析用消偏振分色滤光片 , 其特征在于,由基底及高陡度消偏振膜系构成 ;其中,高陡度消偏振膜系在 45 度入射的条件下具备以下特征 :透射区和截止区之间的波长范围小于10nm ;透射区范围达到 300nm以上;P光、S光在T=50%TPK处的偏振分离度小于1nm;所述高陡度消偏振膜系基本结构为:S|(αHβMγLβMαH) ^n |A;其中:S为玻璃基底;A 为空气;H 为高折射率材料;L为低折射率材料;M为适合的中间折射率材料;H、L、M 均为光学厚度为λ0/4;α、β、γ分别表示不同材料的匹配系数;n 为循环次数。
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