[发明专利]荧光分析用消偏振分色滤光片有效
申请号: | 201510791272.2 | 申请日: | 2015-11-17 |
公开(公告)号: | CN105242340B | 公开(公告)日: | 2019-02-05 |
发明(设计)人: | 任少鹏;高鹏;赵帅峰;胡雯雯;吴增辉;阴晓俊 | 申请(专利权)人: | 沈阳仪表科学研究院有限公司 |
主分类号: | G02B5/20 | 分类号: | G02B5/20 |
代理公司: | 沈阳亚泰专利商标代理有限公司 21107 | 代理人: | 郭元艺 |
地址: | 110043 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明属滤光片领域,尤其涉及一种荧光分析用消偏振分色滤光片,由基底及高陡度消偏振膜系构成;其中,高陡度消偏振膜系在45度入射的条件下具备以下特征:透射区和截止区之间的波长范围小于10nm;透射区范围达到300nm以上;P光、S光在T=50%TPK处的偏振分离度小于1nm;所述高陡度消偏振膜系基本结构为:S|(αHβMγLβMαH)^n|A;其中:S为玻璃基底;A为空气;H为高折射率材料;L为低折射率材料;M为适合的中间折射率材料;H、L、M均为光学厚度为λ0/4;α、β、γ分别表示不同材料的匹配系数;n为循环次数。本发明在45度入射时具有高陡度,宽透射带,小的偏振分离度。 | ||
搜索关键词: | 荧光 分析 偏振 分色 滤光 | ||
【主权项】:
1.一种荧光分析用消偏振分色滤光片 , 其特征在于,由基底及高陡度消偏振膜系构成 ;其中,高陡度消偏振膜系在 45 度入射的条件下具备以下特征 :透射区和截止区之间的波长范围小于10nm ;透射区范围达到 300nm以上;P光、S光在T=50%TPK处的偏振分离度小于1nm;所述高陡度消偏振膜系基本结构为:S|(αHβMγLβMαH) ^n |A;其中:S为玻璃基底;A 为空气;H 为高折射率材料;L为低折射率材料;M为适合的中间折射率材料;H、L、M 均为光学厚度为λ0/4;α、β、γ分别表示不同材料的匹配系数;n 为循环次数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于沈阳仪表科学研究院有限公司,未经沈阳仪表科学研究院有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510791272.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种复合织物的后处理工艺
- 下一篇:一种整体式自动扶梯支撑架