[发明专利]微波增强等离子体化学气相沉积中功率-气压-温度耦合方法在审
| 申请号: | 201510786301.6 | 申请日: | 2015-11-16 |
| 公开(公告)号: | CN105296966A | 公开(公告)日: | 2016-02-03 |
| 发明(设计)人: | 朱嘉琦;高鸽;代兵;舒国阳;刘康;陈亚楠;赵继文 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号: | C23C16/52 | 分类号: | C23C16/52;C23C16/27 |
| 代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 侯静 |
| 地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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| 摘要: | 微波增强等离子体化学气相沉积中功率-气压-温度耦合方法,它涉及微波增强等离子体化学气相沉积技术的改进方法。本发明要解决现有的MPCVD技术制备金刚石薄膜过程中,由于基体温度、功率密度和沉积气压对于制备出的金刚石薄膜质量影响大的问题。本发明方法为:步骤一、实验数据采集步骤;二、检测试样质量;步骤三、制备工艺参数关系拟合。本发明的方法可以提高单晶金刚石的生长质量。 | ||
| 搜索关键词: | 微波 增强 等离子体 化学 沉积 功率 气压 温度 耦合 方法 | ||
【主权项】:
微波增强等离子体化学气相沉积中功率‑气压‑温度耦合方法,其特征在于它是按照以下步骤实现的:步骤一、采用MPCVD法制备单晶金刚石;步骤二、利用体式显微镜、Raman衍射仪和PL谱对步骤一制备的单晶金刚石进行质量检测;步骤三、采集制备质量合格单晶金刚石的MPCVD法中的功率、沉积气压和基体温度参数;步骤四、依据实验采集参数利用Origin软件结合下述公式对功率、沉积气压和机体温度参数进行耦合:ks=0.5kgns[μ/mg]1/2;其中,ks、kg为基体和气相的反应速率,ns为对称系数,μ为总反应物的质量减小量,mg为被气体除去的样品质量;则(100)面的吉布斯自由能为:
其中,CH3中为活性基,H为氢原子,ns为金刚石(100)面总的摩尔面密度,nd为金刚石体密度,k1、k2、k3、k4和k5为反应速率常数。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
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