[发明专利]一种测量土中裂隙分布和深度的方法在审

专利信息
申请号: 201510786286.5 申请日: 2015-11-16
公开(公告)号: CN105445330A 公开(公告)日: 2016-03-30
发明(设计)人: 袁俊平;韩春雷;丛茂建;王强林;丁国权;卢艳平 申请(专利权)人: 河海大学
主分类号: G01N27/04 分类号: G01N27/04
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 董建林
地址: 210098 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种测量土中裂隙分布和深度的方法,其特征在于:土体中电流密度分布随着深度按双曲线规律变化,当土中某一深度范围裂隙发育,视电导率将发生变化,视电导率与基础电极对观测值的比值遵循双曲线关系,根据这一规律可以推算待测区域内的土体裂隙分布和发育深度。与现有技术相比,本发明应用时更为灵活,可以根据待测区域的特征调整电极排布方式和电极间距,对土体扰动小,能较准确地测得土体裂隙分布和开发育深度。
搜索关键词: 一种 测量 裂隙 分布 深度 方法
【主权项】:
一种测量土中裂隙分布和深度的方法,其特征在于:包括以下步骤:S01,在待测均质土中按电极布置形式布置若干电极,并使至少某两个电极间没有裂隙;所述电极布置形式包括圆形和/或三角形;S02,根据电极布置形式测量电极之间的视电导率;对于圆形的电极布置形式,测量圆心电极和圆周上各个电极间的视电导率;对于三角形的电极布置形式,测量任意相邻电极间的视电导率;S03,在测得的视电导率中,视电导率数值最大的两个电极即对应基础电极对,根据有裂隙的电极对间视电导率与基础电极对间视电导率的比值随裂隙深度变化的双曲线关系,推算待测区域内任意两个电极间有无裂隙及裂隙发育深度;双曲线方程为:<mrow><mi>K</mi><mo>=</mo><mn>1</mn><mo>-</mo><mfrac><mi>h</mi><msqrt><mrow><msup><mrow><mo>(</mo><mi>L</mi><mo>/</mo><mn>2</mn><mo>)</mo></mrow><mn>2</mn></msup><mo>+</mo><msup><mi>h</mi><mn>2</mn></msup></mrow></msqrt></mfrac><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mn>1</mn><mo>)</mo></mrow></mrow>式(1)中,K代表有裂隙的电极对间视电导率与基础电极对间视电导率的比值;L代表两电极间距;h代表裂隙发育深度;S04,根据推算的待测区域内任意两个电极间有无裂隙及裂隙发育深度的数据,将有裂隙的区段依次相连,即可确定该区域土体内裂隙的分布和走向,亦可标记各段裂隙发育深度。
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