[发明专利]电控光散射材料与器件时域响应特性测试方法

摘要

本发明公开一种电控光散射材料与器件时域响应特性测试方法，包括测试样品制备、光路调节、脉冲电源驱动、获取并存储“电压—时间”关系曲线以及，分别计算散光光强变化与时间的时域响应特性、散光时域响应特性与外加电场关系。所用仪器包括：平行光单色激光器、超快脉冲驱动电源、样品支架、可变光阑、光电探测器、示波器、挡板和聚光凸透镜。其理论依据是：光电探测器输出电压与照射到探测面上的光强度成正比，探测器输出电压随时间变化关系直接反映光强随时间变化关系，结合测试时对测试系统中器件及传输网络响应时间误差校正，得出相应外加电压下电控光散射材料或器件的散光光强变化与时间的时域响应特性以及响应时间与电场强度间关系。

主权项

一种电控光散射材料与器件时域响应特性测试方法，包括：测试样品制备、光路调节、脉冲电源驱动、获取并存储“电压—时间”关系曲线以及，分别计算得出散光光强变化与时间的时域响应特性、散光时域响应特性与外加电场之间的关系；所述特性测试方法选用的仪器设备包括：平行光单色激光器（1）、可调超快脉冲驱动电源（2）、样品支架（3）、可变光阑（4）、光电探测器（5）、数字存储示波器（6），还包括：挡板（7）和聚光凸透镜（8）；其特征在于：所述时域响应特性测试方法具体按如下步骤：①将待测的电控光散射材料制备成一定厚度的方形薄片，再在薄片的两面制备透明导电薄膜，并将金属导线从所述透明导电薄膜上引出，制成带导电电极的电控光散射材料待测试样品；②将平行单色激光器（1）输出的单色激光经准直器准直后,生成具有一定直径的平行光束，再将依次布置的平行光单色激光器（1）、样品支架（3）、可变光阑（4）、光电探测器（5）的中心调节为一水平直线，构成测试光路；所述可变光阑（4）用于遮挡散射的光线，仅让没有被散射的直射光线通过；③将步骤①制备的待测试样品垂直放置到样品支架（3）上，确保待测试样品的入射光线垂直于样品的表面进入；且当不加电场时，光线沿着入射方向垂直于样品的表面射出样品外，出射光经可变光阑（4）后，一部分没有被散射的光线直接照射到光电探测器（5）的受光面上，而散射的光线被所述的可变光阑（4）遮挡后不能再照射到所述的光电探测器（5）的受光面上；④将可调超快脉冲驱动电源（2）的正负极用导线连接到步骤⑶中已安装好的待测试样品的电极引线上；⑤将光电探测器（5）的输出电缆连接到数字存储示波器（6）的输入端，所述数字存储示波器（6）用于采集并存储所述光电探测器（5）输出的“电压—时间”关系曲线；⑥对步骤⑤获取的“电压—时间”关系曲线进行计算，得出具体的响应时间与测量误差；所述数字存储示波器（6）采集并存储的“电压—时间”关系曲线即直接反映出在某一外加电压下的电控光散射材料或器件的散光光强变化与时间的时域响应特性；⑦对步骤⑤获取的“电压—时间”关系曲线进行计算，得出待测样品的“响应时间—电场强度”关系曲线，反映电控光散射材料或器件的散光时域响应特性与外加电场之间的关系。