[发明专利]半导体元件以及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201510764951.0 申请日: 2015-11-11
公开(公告)号: CN106684085B 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 张原祥;邱意珊;张志谦;杨建军;张文娟 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H01L27/105 分类号: H01L27/105;H01L21/8239
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台湾*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开一种半导体元件以及其制作方法。该半导体元件的制作方法包括下列步骤。在一半导体基底的一存储器区上形成多个选择栅极。在两相邻的选择栅极之间形成两电荷存储结构。在半导体基底中形成一源极区,且源极区形成于两相邻的选择栅极之间。形成一绝缘块,且绝缘块形成于两电荷存储结构之间以及源极区上。在绝缘块上形成一存储栅极,且存储栅极与两电荷存储结构连接。
搜索关键词: 半导体 元件 及其 制作方法
【主权项】:
一种半导体元件的制作方法,包括:在一半导体基底的一存储器区上形成多个选择栅极;在两相邻的选择栅极之间形成两电荷存储结构;在该半导体基底中形成一源极区,其中该源极区形成于该两相邻的选择栅极之间;形成一绝缘块,该绝缘块形成于该两电荷存储结构之间以及该源极区上;以及在该绝缘块上形成一存储栅极,其中该存储栅极与该两电荷存储结构连接。
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