[发明专利]一种运算放大器的测试装置有效
| 申请号： | 201510757449.7 | 申请日： | 2015-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN105372580B | 公开（公告）日： | 2018-08-14 |
| 发明（设计）人： | 刘若智 | 申请（专利权）人： | 上海芯哲微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 竺路玲 |
| 地址： | 201400 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测试装置，尤其涉及一种运算放大器的运算装置。一种运算放大器的测试装置，所述测试装置包括箱体，所述箱体内部包括：底板；运放环路板，与所述底板固定连接，印刷有所述运算放大器的测试电路；转接板，与所述底板连接，转接所述底板与所述运放环路板上的全部或部分测试信号。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 运算放大器 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种运算放大器的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括箱体，所述箱体内部包括：底板，包括所述运算放大器测试电路的布线；运放环路板，与所述底板固定连接，焊接有所述运算放大器的测试电路；转接板，与所述底板连接，转接所述底板与所述运放环路板上的全部或部分测试信号；所述测试装置还包括：至少一个16屏蔽排线，与所述底板连接，将所述测试信号输出和/或接入输入信号；64屏蔽连线，与所述运放环路连接，将所述测试信号输出和/或接入输入信号。
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