[发明专利]一种光场成像光谱仪的光谱标定校正方法有效

专利信息
申请号: 201510742459.3 申请日: 2015-11-04
公开(公告)号: CN105424186B 公开(公告)日: 2017-06-27
发明(设计)人: 苏丽娟;袁艳;周健 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 代理人: 张大威
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种成像光谱仪的调试方法,包括搭建光谱定标系统;开展光谱定标实验,获取每个谱段相应图像;基于测量结果拟合获得像元中心波长和光谱带宽;确定每个微透镜的光谱采样位置;搭建响应非均匀性定标系统,获取响应非均匀系数;拍摄实际场景提取光谱数据并用响应非均匀系数校正;重构光谱数据立方体,获取单一谱段场景图像。本发明具有如下优点可实现对成像光谱仪全视场的定标,无需局部扫描;波长采样位置机理更符合成像光谱仪自身机理,有利于保证信息提取的准确性;在光谱维度上进行数据重构,减少了混叠等因素的影响。
搜索关键词: 一种 成像 光谱仪 光谱 标定 校正 方法
【主权项】:
一种光场成像光谱仪的光谱标定校正方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:利用普通光源、单色仪和积分球组成谱段可调节单色均匀面光源,其中,所述普通光源、所述单色仪和所述积分球依次连接;S2:利用所述单色均匀面光源照射成像光谱仪,获取所述成像光谱仪在各个谱段下的系统响应;S3:根据所述成像光谱仪在各个谱段下的系统响应,确定每个微透镜下各个像元对应的中心波长和光谱带宽;S4:根据每个微透镜下各个像元对应的所述中心波长和所述光谱带宽,确定每个微透镜的光谱采样波长位置;S5:根据所述单色均匀面光源的光谱数据、所述中心波长和所述光谱带宽计算每个微透镜在各个谱段的相对响应非均匀系数;S6:针对实际场景图像,提取每个微透镜覆盖像元的灰度值,并根据每个微透镜的所述光谱采样波长位置和所述相对响应非均匀系数计算得到校正后的光谱数据;以及S7:根据所述校正后的光谱数据,按照目标空间位置依次排列重构实际场景光谱数据立方体。
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