[发明专利]一种空间单粒子翻转率的测量系统在审
| 申请号： | 201510741909.7 | 申请日： | 2015-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN105301472A | 公开（公告）日： | 2016-02-03 |
| 发明（设计）人： | 张楠;朱天成;李鑫;侯俊马 | 申请（专利权）人： | 天津津航计算技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/265 | 分类号： | G01R31/265 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人： | 刘东升 |
| 地址： | 300308 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种空间单粒子翻转率的测量系统，其中，待测器件通过插座连接CPU，抗辐照SRAM连接CPU，CPU连接微机，辐照板设置在待测器件和抗辐照SRAM一侧；在辐照板辐照前，CPU同步给抗辐照SRAM与待测器件每个字节写入相同数据；在辐照板辐照过程中，CPU循环监测待测器件所有单元中存储的数据，并与抗辐照SRAM中数据相比较，统计不同位的位数及地址，将CPU得到的结果输出到微机中显示。本发明可以在实际环境中对抗SEU加固技术进行评估；可以对抗SEU加固技术进行实时监测验证；可以测量多种器件在多种辐照环境下的单粒子翻转率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 空间 粒子 翻转 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种空间单粒子翻转率的测量系统，其特征在于，包括：待测器件、抗辐照SRAM、辐照板、CPU和微机；待测器件通过插座连接CPU，抗辐照SRAM连接CPU，CPU连接微机，辐照板设置在待测器件和抗辐照SRAM一侧；在辐照板辐照前，CPU同步给抗辐照SRAM与待测器件每个字节写入相同数据；在辐照板辐照过程中，CPU循环监测待测器件所有单元中存储的数据，并与抗辐照SRAM中数据相比较，统计不同位的位数及地址，将CPU得到的结果输出到微机中显示；若待测器件和抗辐照SRAM中数据不相同，则发生了单粒子翻转，记录并统计翻转数及其地址，得到总的翻转数以及某一时刻的翻转情况。
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