[发明专利]一种MEMS圆片级真空封装结构及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201510729482.9 申请日: 2015-10-30
公开(公告)号: CN105293420A 公开(公告)日: 2016-02-03
发明(设计)人: 张富强;杨静;孟美玉;李光北;孙俊敏;钟立志 申请(专利权)人: 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
主分类号: B81B3/00 分类号: B81B3/00;B81B7/00;B81C1/00;B81C3/00
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 臧春喜
地址: 100076 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种MEMS圆片级真空封装结构及其制作方法。封装结构包括硅盖板和带可动结构的MEMS圆片,盖板上带有垂直通孔,通孔内部填充有导电材料,盖板键合面有凹槽,凹槽底部有一层吸气剂薄膜,硅盖板与带可动结构的MEMS圆片通过圆片键合形成真空封装结构。本发明的制作方法首先在盖板上制作出通孔,孔内填充导电材料。然后在键合面上制作出凹槽,槽底部淀积一层吸气剂薄膜,键合区域淀积一层多层金属薄膜,将盖板与带可动结构的MEMS圆片在真空环境中进行圆片键合。本发明通过在硅盖板上制作带有吸气剂的槽和通孔,实现了密闭凹槽的电极引出,不需引线键合,工序简单,同时提高了封装结构内真空度的维持能力,避免了切割时颗粒对可动结构的沾污,保证器件性能。
搜索关键词: 一种 mems 圆片级 真空 封装 结构 及其 制作方法
【主权项】:
一种MEMS圆片级真空封装结构,其特征在于:包括硅盖板(100)和带可动结构(201)的MEMS圆片(200);所述硅盖板(100)的下表面加工有N个用于容纳所述可动结构(201)的凹槽(101),凹槽(101)的底部覆盖一层吸气剂薄膜(106);硅盖板(100)上加工有M个通孔(102),通孔(102)中填充导电材料(104),所述导电材料(104)的上端分别与硅盖板(100)的上表面平齐;通孔(102)的侧壁、硅盖板(100)的下表面上除凹槽(101)以外的区域以及硅盖板(100)的上表面均设置有绝缘层(103),所述硅盖板(100)下表面绝缘层上加工有金属键合区(105);硅盖板(100)通过金属键合区(105)与MEMS圆片(200)进行圆片键合,形成真空封装结构,所述导电材料(104)一端与MEMS圆片(200)的焊盘连接,另一端引出用于与外部电路连接的金属连线(303);其中M、N为大于1的自然数。
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