[发明专利]三级管用外延片及其制备方法在审
申请号: | 201510725514.8 | 申请日: | 2015-10-30 |
公开(公告)号: | CN105336769A | 公开(公告)日: | 2016-02-17 |
发明(设计)人: | 王东盛;苗操;李亦衡;魏鸿源;严文胜;张葶葶;朱廷刚 | 申请(专利权)人: | 江苏能华微电子科技发展有限公司 |
主分类号: | H01L29/73 | 分类号: | H01L29/73;H01L21/331;H01L29/06 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 孙仿卫 |
地址: | 215600 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种三级管用外延片及其制备方法,其制成的三极管电子器件漏电更低、击穿电压更高、寿命更长。一种三级管用外延片,包括依次层叠的衬底、GaN成核层、GaN缓冲层、GaN沟道层、AlN插入层、AlGaN本征层、GaN盖层,所述衬底为图形化蓝宝石衬底,所述GaN成核层为C掺杂的GaN成核层,所述GaN缓冲层为C掺杂的GaN缓冲层。 | ||
搜索关键词: | 三级 管用 外延 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种三级管用外延片,包括依次层叠的衬底、GaN成核层、GaN缓冲层、GaN沟道层、AlN插入层、AlGaN本征层、GaN盖层,其特征在于:所述衬底为图形化蓝宝石衬底,所述GaN成核层为C掺杂的GaN成核层,所述GaN缓冲层为C掺杂的GaN缓冲层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏能华微电子科技发展有限公司,未经江苏能华微电子科技发展有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510725514.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种耗尽型VDMOS器件及其制作方法
- 下一篇:半导体装置及其驱动方法
- 同类专利
- 专利分类