[发明专利]用于深孔内壁观察测量的检测装置及方法在审
| 申请号： | 201510708118.4 | 申请日： | 2015-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN105371779A | 公开（公告）日： | 2016-03-02 |
| 发明（设计）人： | 陈莉;曹雪峰;许恒庭;沈燕萍;武英英;吴宏 | 申请（专利权）人： | 上海航天精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01B11/00 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 郭国中 |
| 地址： | 201699*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于深孔内壁观察测量的检测装置及方法，包括步骤：通过上工作平台(2)上的夹持装置(1)夹持深孔试件；通过调节横轴微分筒(3)、纵轴微分筒(5)、升降手柄(8)、角度调节旋钮(10)，使得点光源(12)的光线从深孔试件底部向上穿过深孔试件射入体视显微镜(13)视场内。本发明能够得到良好景深的清晰视场，实现深(通)孔被测样件内壁的多视角观察与测量。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 内壁 观察 测量 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种用于深孔内壁观察测量的检测装置，其特征在于，包括：夹持工装(1)、上工作台(2)、横轴微分筒(3)、中工作台(4)、纵轴微分筒(5)、下工作台(6)、升降轴(7)、升降手柄(8)、角度调节旋钮(10)、摆动平台(11)、点光源(12)、体视显微镜(13)；所述夹持工装(1)通过焊接方法固定在上工作台(2)的一侧台面上；所述上工作台(2)设置在中工作台(4)上；上工作台(2)通过所述横轴微分筒(3)调节横向移动；中工作台(4)通过所述纵轴微分筒(5)调节纵向移动；所述中工作台(4)设置在下工作台(6)上端；所述下工作台(6)通过升降手柄(8)调节上下方向的移动；所述升降轴(7)嵌套在下工作台(6)下方，能够沿所述升降手柄(8)控制下工作台(6)位置；所述摆动平台(11)设置在上工作台(2)上，通过角度调节旋钮(10)调节摆动平台的倾斜角度；所述点光源(12)固定在摆动平台(11)中心位置的凹槽内；所述体视显微镜(13)的镜头设置在夹持工装(1)的正上方。
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