[发明专利]一种光学距离调整环厚度测量装置及其测量方法

摘要

本发明公开了一种光学距离调整环厚度测量装置及其测量方法，其中，厚度测量装置包括测量平台（4），在测量平台（4）上设置有贯穿上下的测量孔（41），在测量平台（4）下方设置有用于支撑的平台支架（3），在测量平台（4）的上方和下方还分别设置有上长度计（1）和下长度计（2），所述上长度计（1）和所述下长度计（2）分别与长度测量数显表（5）电连接，用于厚度的测量，该厚度测量装置和测量方法通过两个长度计分别对光学距离调整环的上下表面进行测量，能够准确夹持光学距离调整环结构翘曲变形部分，并且完成大尺寸光学距离调整环的测量，具有结构简单，设计合理，测量精准，适用范围广等优点。

主权项

一种光学距离调整环厚度测量装置，其特征在于，包括：用于待测光学距离调整环放置的测量平台（4），其上设置有贯穿上下的测量孔（41）；平台支架（3），设置于所述测量平台（4）的下方，用于所述测量平台（4）的支撑；下长度计（2），其位于所述测量平台（4）的下方，且所述下长度计（2）中的测头穿过所述测量平台（4）中的测量孔（41），用于所述待测光学距离调整环下表面的测量；上长度计（1），位于所述测量平台（4）的上方，用于所述待测光学距离调整环上表面的测量；长度测量数显表（5），分别与所述上长度计（1）和所述下长度计（2）电连接，用于读取所述上长度计（1）和所述下长度计（2）的测量值，并将所述上长度计（1）和所述下长度计（2）的测量值加减换算后显示。