[发明专利]半导体存储器件及其操作方法有效
申请号: | 201510695911.5 | 申请日: | 2015-10-23 |
公开(公告)号: | CN106205700B | 公开(公告)日: | 2020-05-19 |
发明(设计)人: | 李熙烈;刘泫昇 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | G11C16/10 | 分类号: | G11C16/10;G11C16/34 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 俞波;毋二省 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种半导体存储器件,包括:存储单元阵列,包括多个存储单元;外围电路,用于施加编程电压并验证存储单元阵列的编程是否已经完成;以及控制逻辑,用于控制外围电路来在施加重新编程许可电压到耦接至先前通过编程验证但编程重新验证已经失败的存储单元的位线的同时施加被增大了的编程电压到存储单元阵列。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储 器件 及其 操作方法 | ||
【主权项】:
一种半导体存储器件,包括:存储单元阵列,包括多个存储单元;外围电路,被配置用来施加编程电压并验证存储单元阵列的编程是否已经完成;以及控制逻辑,被配置用来控制外围电路以在施加重新编程许可电压到耦接至先前通过编程验证但编程重新验证已经失败的存储单元的位线的同时施加被增大了的编程电压到存储单元阵列。
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