[发明专利]射频终端的性能检测方法及系统在审
| 申请号： | 201510689659.7 | 申请日： | 2015-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN105162714A | 公开（公告）日： | 2015-12-16 |
| 发明（设计）人： | 徐沈骏;薄轶祥 | 申请（专利权）人： | 上海斐讯数据通信技术有限公司 |
| 主分类号： | H04L12/771 | 分类号： | H04L12/771;H04L12/26;H04B17/15;H04B17/29 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人： | 徐秋平 |
| 地址： | 201616 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种射频终端的性能检测方法及系统，所述射频终端的性能检测方法包括：引出与所述射频终端相连的射频芯片的输出管脚作为第一测试端口；引出与所述射频终端相连的天线焊点作为第二测试端口；所述第一测试端口、所述射频芯片、所述射频终端、所述天线焊点构成二端口网络；利用与所述第一测试端口和第二测试端口分别连接的测试设备测试所述二端口网络的对应射频性能。本发明可以脱离射频芯片，直接将射频终端看作二端口网络进行检测和调试，能兼容更多的有源和无源测试方法，可分模块化分析和解决射频匹配类问题，提高射频输出整体性能。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 终端 性能 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种射频终端的性能检测方法，其特征在于，所述射频终端的性能检测方法包括：引出与所述射频终端相连的射频芯片的输出管脚作为第一测试端口；引出与所述射频终端相连的天线焊点作为第二测试端口；所述第一测试端口、所述射频芯片、所述射频终端、所述天线焊点构成二端口网络；利用与所述第一测试端口和第二测试端口分别连接的测试设备测试所述二端口网络的对应射频性能。
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