[发明专利]对半导体部件的温度变化的限定

摘要

本发明涉及对半导体部件的温度变化的限定，公开了一种对开关转换器的半导体部件中的温度变化进行限定的方法和设备，该方法包括：确定与开关转换器的操作温度相关的量；确定半导体部件的温度；基于所确定的与开关转换器的操作温度相关的量和半导体部件的温度来选择开关转换器的开关频率的最大值；以及将开关转换器的半导体部件的开关频率限定为所选择的开关频率。

主权项

1.一种对开关转换器的半导体部件中的温度变化进行限定的方法，所述方法包括：确定与所述开关转换器的操作温度相关的量，确定所述半导体部件的温度，基于所确定的与所述开关转换器的操作温度相关的量和所述半导体部件的温度来选择所述开关转换器的开关频率的最大值，以及将所述开关转换器的半导体部件的开关频率限定为所选择的开关频率，其中，选择所述开关频率的最大值包括：基于所确定的与所述开关转换器的操作温度相关的量来设置温度上限T_sf_high，选择所述开关频率的最大值，使得：当所述半导体部件的温度高于所述温度上限时，所述开关频率的最大值具有第二频率值，以及当所述半导体部件的温度低于所述温度上限时，所述开关频率的最大值具有比所述第二频率值更高的值。