[发明专利]一种定位孔光学检测方法

摘要

本发明是一种定位孔光学检测方法，该方法能够根据不同检测孔直径尺寸，可调整检测装置的定位轴的直径尺寸进行定位孔光学位置检测。且通过对零件的定位孔的顶点向上偏移两点尺寸后的实测坐标值进行光学检测，是能够解决检测制造孔与零件工作表面垂直度难题的一种光学检测方法。

主权项

一种定位孔光学检测方法，其特征在于：该方法使用的检测组件包括球座(1)、转接座(2)和定位轴(3)，其中：球座(1)为圆柱体，球座(1)的上表面中心有凹型球面(4)，球座(1)的底面中心有球座盲孔(5)，球座盲孔(5)的中心线与球座(1)的底面垂直；转接座(2)也是一个圆柱体，转接座(2)的上表面中心有突出的转接轴(6)，转接座(2)的底面中心有转接座盲孔(7)，转接座盲孔(7)的中心线与转接座(2)的底面垂直；定位轴(3)为台阶状圆柱体，该台阶状圆柱体由外径大的限位轴(8)和外径小的测量定位轴(9)构成，限位轴(8)和测量定位轴(9)同心；球座盲孔(5)、转接座盲孔(7)、转接轴(6)和限位轴(8)的直径尺寸相同，球座盲孔(5)与转接座盲孔(7)的高度尺寸相同，转接轴(6)和限位轴(8)的高度尺寸相同，限位轴(8)高度尺寸小于转接座盲孔(7)的高度尺寸，测量定位轴(9)的直径尺寸与零件中待测定位孔的直径尺寸相同；该检测方法的步骤如下：步骤一、检测零件的定位孔的顶点向上偏移B尺寸后的实测坐标值将球面(4)的球心距球座(1)的底面距离设定为尺寸B，将定位轴(3)的测量定位轴(9)放入零件待检测的定位孔中，使定位轴(3)的限位轴(8)的底面与零件的定位孔的上表面贴合，然后将球座(1)的底面中心的球座盲孔(5)套装在定位轴(3)的限位轴(8)的圆柱面上，使球座(1)的底面与零件的定位孔的上表面贴合，将检测用光标球放置在球座(1)的上表面中心的凹型球面(4)中，用光学检测仪器检测球面(4)中的光标球心的光标点坐标值并记录；步骤二、检测零件的定位孔的顶点向上偏移A尺寸后的实测坐标值将定位轴(3)的测量定位轴(9)放入零件待检测的定位孔中，使定位轴(3)的限位轴(8)的底面与零件的定位孔的上表面贴合，将转接座(2)的底面中心的转接座盲孔(7)套装在定位轴(3)的限位轴(8)的圆柱面上，使转接座(2)的底面与零件待测的定位孔的上表面贴合，然后将球座(1)的底面中心的球座盲孔(5)套装在转接座(2)的上表面中心的转接轴(6)的圆柱面上，使球座(1)的底面与转接座(2)的上表面贴合，将检测用光标球放置在球座(1)的上表面中心的凹型球面(4)中，将球面(4)的球心距转接座(2)的底面距离设定为尺寸A,用光学检测仪器检测球面(4)中的光标球心的光标点坐标值并记录。步骤三、检测零件待测的定位孔的安装位置和安装垂直度将步骤一实测光标点坐标值与零件待测的定位孔的顶点向上偏移尺寸B后的理论光标点坐标值相比较，两项坐标值相符合说明零件待测的定位孔的安装位置正确；将步骤二实测光标点坐标值与零件待测的定位孔的顶点向上偏移尺寸A后的理论光标点坐标值相比较，两项坐标值相符合说明零件待测的定位孔的安装位置正确；上述两项均符合说明零件待测的定位孔的安装垂直度正确。