[发明专利]一种快速有效的电路单元重要性测度方法

摘要

一种快速有效的电路单元重要性测度方法，包括以下步骤：步骤1：网表解析及相关量的初始化，1.1)读取电路网表；1.2)检测电路单元间的互连结构，并将隐式串并联关系显示化；然后运用分层算法对电路分层；步骤2：计算电路单元的可靠度变化梯度ε；步骤3：输出按重要性排序的电路单元以作为设计依据，3.1)按ε从小至大方式排序<g,ε>；3.2)针对ε相同的电路单元，依据敏化通路覆盖率大小对其排序；3.3)依次从<g,ε>中提取相对应的电路单元g以供电路设计人员使用。本发明测度精度较高、计算复杂度较小、可操作性较强。

主权项

一种快速有效的电路单元重要性测度方法，其特征在于：所述测度方法包括以下步骤：步骤1：网表解析及相关量的初始化1.1)读取电路网表；1.2)检测电路单元间的互连结构，并将隐式串并联关系显示化；然后运用分层算法对电路分层，并提取电路的层数l_c、原始输入端数n、原始输出端数m、电路的最大宽度w与电路单元数N。再基于二元序偶<g_i,0>初始化第i个电路电路单元g_i，并提取其出度数dg_i，其中i＝1,2,…,N；步骤2：计算电路单元的可靠度变化梯度ε2.1)按层次顺序提取第k个电路单元g_k，通过扩展的概率转移矩阵模型EPTM计算其第j根输出引线位置的输出可靠度Rg_kj，再利用式(1)计算该电路单元的可靠度变化梯度ε_k；${\mathrm{\&epsiv;}}_k=\left\{\begin{array}{cc}MIN\left(\frac{{\mathrm{Rg}}_{kj}-{\mathrm{Rg}}_{th}}{{\mathrm{Rg}}_{th}}\right),& if{\mathrm{Rg}}_{kj}\&gt;{\mathrm{Rg}}_{th}\\ 0,& if{\mathrm{Rg}}_{kj}={\mathrm{Rg}}_{th}\\ -MAX\left(\right|\frac{{\mathrm{Rg}}_{kj}-{\mathrm{Rg}}_{th}}{{\mathrm{Rg}}_{th}}\left|\right),& if{\mathrm{Rg}}_{kj}\&lt;{\mathrm{Rg}}_{th}\end{array}\right.---\left(1\right)$其中，Rg_th为第t个电路单元g_t的第h根输出引线位置的输出可靠度；2.2)更新电路单元g_k的二元序偶为<g_i,ε_k>第t个电路单元g_t的第h根输出引线为g_k的输入引线；k＝1,2,…,N且t≠k，j＝1,2,…,dg_k，$\{t_1,t_2,t_3\}\&SubsetEqual;t,\{h_1,h_2,h_3\}\&SubsetEqual;h;$步骤3：输出按重要性排序的电路单元以作为设计依据3.1)按ε从小至大方式排序<g,ε>；3.2)针对ε相同的电路单元，按下述步骤对其排序；a)通过式(2a)分别计算各电路单元的敏化通路覆盖率β$\mathrm{\&beta;}={\mathrm{\&lambda;}}_q\frac{l_c-l_r}{l_c}+\underset{s=l_r}{\overset{i_{r+q}}{\&Sigma;}}{\mathrm{\&lambda;}}_q\frac{w_s}{w}---\left(2a\right)$${\mathrm{\&lambda;}}_q=\frac{1}{q+2}---\left(2b\right)$其中，l_r指电路单元所属的层次号，w_s指在第s层上与电路单元有可达路径的其它所有电路单元的出度和，w指电路的最大宽度，q为迭代结束条件且q∈{0,1…,c‑r}，λ_q为权值，其作用是为了满足β∈[0,1]的取值要求；b)若q＝0，则按β从大至小方式排序<g,ε>；否则，若q<c‑r，则提取β相同的电路单元，执行q＝q+1并通过式(2a)分别计算其β，并按β从大至小方式排序相对应电路单元的<g,ε>且将结果插入到q＝0所对应到的<g,ε>有序序列的原有位置；3.3)依次从<g,ε>中提取相对应的电路单元g以供电路设计人员使用。