[发明专利]制作多晶片图像传感器的方法有效

专利信息
申请号: 201510661646.9 申请日: 2015-10-14
公开(公告)号: CN105529341B 公开(公告)日: 2019-04-05
发明(设计)人: 钱胤;戴森·H·戴;李瑾;陆震伟;霍华德·E·罗兹 申请(专利权)人: 豪威科技股份有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H01L21/77
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 齐杨
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本申请案涉及一种制作多晶片图像传感器的方法。一种制作图像传感器的方法包含:在半导体衬底的成像区中形成像素阵列;及在形成所述像素阵列之后在所述半导体衬底的外围区中形成沟槽。所述外围区在所述成像区的周界上。用绝缘材料填充所述沟槽。在用绝缘材料填充所述沟槽之后形成互连层。将第一晶片接合到第二晶片。所述第一晶片包含所述互连层及所述半导体衬底。薄化所述半导体衬底的背侧以暴露所述绝缘材料。穿过所述绝缘材料形成通孔腔。所述通孔腔向下延伸到所述第二晶片的第二互连层。用导电材料填充所述通孔腔以形成通孔。所述绝缘材料将所述导电材料与所述半导体衬底绝缘。
搜索关键词: 制作 多晶 图像传感器 方法
【主权项】:
1.一种制作图像系统的方法,所述方法包括:在半导体衬底的成像区中形成像素阵列;在形成所述像素阵列之后在所述半导体衬底的外围区中形成沟槽,其中所述外围区在所述成像区的周界上;用绝缘材料填充所述沟槽;在用所述绝缘材料填充所述沟槽之后,形成横跨所述成像区及所述外围区的互连层,其中第一晶片包含所述互连层及所述半导体衬底,且其中在形成所述互连层之前平面化所述绝缘材料;将所述第一晶片接合到第二晶片;薄化所述半导体衬底的背侧以暴露所述绝缘材料;形成穿过所述绝缘材料的通孔腔,其中所述通孔腔向下延伸到所述第二晶片的第二互连层;及用导电材料填充所述通孔腔以形成通孔,其中所述绝缘材料将所述导电材料与所述半导体衬底电绝缘。
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