[发明专利]制作多晶片图像传感器的方法有效
申请号: | 201510661646.9 | 申请日: | 2015-10-14 |
公开(公告)号: | CN105529341B | 公开(公告)日: | 2019-04-05 |
发明(设计)人: | 钱胤;戴森·H·戴;李瑾;陆震伟;霍华德·E·罗兹 | 申请(专利权)人: | 豪威科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L21/77 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 齐杨 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请案涉及一种制作多晶片图像传感器的方法。一种制作图像传感器的方法包含:在半导体衬底的成像区中形成像素阵列;及在形成所述像素阵列之后在所述半导体衬底的外围区中形成沟槽。所述外围区在所述成像区的周界上。用绝缘材料填充所述沟槽。在用绝缘材料填充所述沟槽之后形成互连层。将第一晶片接合到第二晶片。所述第一晶片包含所述互连层及所述半导体衬底。薄化所述半导体衬底的背侧以暴露所述绝缘材料。穿过所述绝缘材料形成通孔腔。所述通孔腔向下延伸到所述第二晶片的第二互连层。用导电材料填充所述通孔腔以形成通孔。所述绝缘材料将所述导电材料与所述半导体衬底绝缘。 | ||
搜索关键词: | 制作 多晶 图像传感器 方法 | ||
【主权项】:
1.一种制作图像系统的方法,所述方法包括:在半导体衬底的成像区中形成像素阵列;在形成所述像素阵列之后在所述半导体衬底的外围区中形成沟槽,其中所述外围区在所述成像区的周界上;用绝缘材料填充所述沟槽;在用所述绝缘材料填充所述沟槽之后,形成横跨所述成像区及所述外围区的互连层,其中第一晶片包含所述互连层及所述半导体衬底,且其中在形成所述互连层之前平面化所述绝缘材料;将所述第一晶片接合到第二晶片;薄化所述半导体衬底的背侧以暴露所述绝缘材料;形成穿过所述绝缘材料的通孔腔,其中所述通孔腔向下延伸到所述第二晶片的第二互连层;及用导电材料填充所述通孔腔以形成通孔,其中所述绝缘材料将所述导电材料与所述半导体衬底电绝缘。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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