[发明专利]一种自动温升测试装置及方法有效
| 申请号： | 201510659420.5 | 申请日： | 2015-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN105187596B | 公开（公告）日： | 2018-10-12 |
| 发明（设计）人： | 孙旺泉 | 申请（专利权）人： | 上海斐讯数据通信技术有限公司 |
| 主分类号： | H04M1/24 | 分类号： | H04M1/24;G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人： | 郭桂峰 |
| 地址： | 201616 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明适用于自动化检测领域，提供了一种自动温升测试装置，用于对一电子设备的各个工作模块进行温升测试，其包括微控制器及与微控制器电连接的温度传感器、热成像仪。温度传感器感测当前环境温度。热成像仪在微控制器的控制下每隔一预定时间对各个工作模块的工作温度进行一次测试。微控制器读取温度传感器所感测的当前环境温度，并判断当前环境温度是否是最佳测试温度，若是最佳测试温度，则读取热成像仪的测试数据，并根据测试数据制成各个工作模块的温度变化图。自动温升测试装置不需要人工参与，能自动进行温升测试，方便快捷且测试数据准确。本发明还涉及一种自动温升测试方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 自动 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种自动温升测试装置，用于对一个电子设备的各个工作模块进行温升测试，该自动温升测试装置包括一个微控制器及与该微控制器电连接的一个温度传感器、一个热成像仪，该温度传感器用于感测当前环境温度，该热成像仪用于在该微控制器的控制下每隔一预定时间对该各个工作模块的工作温度进行一次测试，该微控制器用于读取该温度传感器所感测的当前环境温度，并判断该当前环境温度是否是最佳测试温度，若该当前环境温度是最佳测试温度，则读取该热成像仪的测试数据，并根据该测试数据制成该各个工作模块的温度变化图；该自动温升测试装置还包括一个模式选择模块，该模式选择模块用于对该电子设备的测试模式进行选择，该微控制器还用于读取该模式选择模块的选择结果及该热成像仪在不同测试模式下的温度数据，并制成该各个工作模块在不同测试模式下的温度变化图。
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