[发明专利]基于集电极漏电流的IGBT健康状态监测方法在审

专利信息
申请号: 201510658959.9 申请日: 2015-10-13
公开(公告)号: CN105158670A 公开(公告)日: 2015-12-16
发明(设计)人: 刘宾礼;罗毅飞;汪波;肖飞;夏燕飞;熊又星;孙文;陈路珈 申请(专利权)人: 中国人民解放军海军工程大学
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 马辉
地址: 430033 湖北*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种IGBT集电极漏电流健康状态监测方法,包括以下步骤首先经检测合格的IGBT模块,安装调试完毕,投入使用之前,在一定条件下测试其集电极漏电流并记录为初始值;定期测试IGBT器件的集电极漏电流并记录为测试值;将测试值带入集电极漏电流健康状态监测方法仿真模型中,即可计算出IGBT器件的疲劳老化进程与剩余寿命,达到监测IGBT健康状态的目的;当集电极漏电流偏离程度达到失效标准时,判定为器件失效,此时需对IGBT器件进行更换,并重复上述步骤。本发明通过初始状态标定与实时监测,即可对处于不同寿命阶段的IGBT器件健康状态与可靠性进行有效评估。
搜索关键词: 基于 集电极 漏电 igbt 健康 状态 监测 方法
【主权项】:
一种基于集电极漏电流的IGBT健康状态监测方法,其特征在于包括以下步骤:(1)安装调试完毕后,投入使用之前,在一定条件下测试经检测合格的IGBT器件的集电极漏电流,标记为初始值Ileak(st);(2)IGBT器件投入使用后,定期测试IGBT器件的集电极漏电流并记录测试值Ileak;(3)将测试值Ileak与初始值Ileak(st)进行比较,根据比较结果判断IGBT器件的集电极漏电流是否达到失效标准Ileak(sf);(4)当集电极漏电流未达到IGBT器件失效标准时,将步骤(2)中获得的测试值带入集电极漏电流健康状态监测方法仿真模型中,该模型参数通过IGBT使用手册和参数提取方法获取,进而计算出IGBT器件的疲劳老化进程与剩余寿命,实现IGBT健康状态监测;(5)当集电极漏电流达到IGBT器件失效标准时,判定为器件失效并对IGBT器件进行更换,并重复上述步骤。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军海军工程大学,未经中国人民解放军海军工程大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510658959.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top