[发明专利]一种测量热障涂层气孔率的方法在审
| 申请号： | 201510658570.4 | 申请日： | 2015-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN105241801A | 公开（公告）日： | 2016-01-13 |
| 发明（设计）人： | 王亮;杨加胜;邵芳;钟兴华;李大川;刘晨光;赵华玉;陶顺衍 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08 |
| 代理公司： | 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 | 代理人： | 曹芳玲;姚佳雯 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测量热障涂层气孔率的方法，包括：制备热障涂层试样；对所述热障涂层试样进行截面扫描以得到原始扫描照片；将所述原始扫描照片导入到Matlab程序中转换为[0，1]矩阵；将转换后得到的[0，1]矩阵导入到Excel中，通过替换功能将0替换为设定值，得到所述设定值的方格的个数；用方格总个数除以矩阵的大小得到气孔率。本发明操作简单，结果准确，可信度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 热障 涂层 气孔率 方法 | ||
【主权项】：
一种测量热障涂层气孔率的方法，其特征在于，包括：制备热障涂层试样；对所述热障涂层试样进行截面扫描以得到原始扫描照片；将所述原始扫描照片导入到Matlab程序中转换为[0，1] 矩阵；将转换后得到的[0，1] 矩阵导入到Excel中，通过替换功能将0替换为设定值，得到所述设定值的方格的个数；用方格总个数除以矩阵的大小得到气孔率。
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