[发明专利]放大率法测焦距的光具座

摘要

本发明公开了一种放大率法测焦距的光具座，包括依次在设置主光轴上的平行光管组件，透镜夹持器，测量显微镜，以及与主光轴平行的Y轴一维导轨，还包括CCD接收器，以及与主光轴垂直的X轴一维导轨，X轴一维导轨上设有滑块、控制滑块移动的丝杠和测量滑块移动距离的光栅尺，测量显微镜固定安装在滑块上；光栅尺与光栅尺数显表连接，CCD接收器与图像显示器连接。本发明通过对传统的放大率测量焦距的光具座进行改造，增加X轴高精度直线导轨，利用双像目镜对准，将焦距测量误差由0.5%‑1%减小到0.1%‑0.5%，同时提高了测量范围和测量速度。

主权项

1.一种放大率法测焦距的光具座，包括依次在设置主光轴上的平行光管组件（1），透镜夹持器（2），测量显微镜（3），以及与主光轴平行的Y轴一维导轨（5），其特征在于，还包括CCD接收器（4），以及与主光轴垂直的X轴一维导轨（6），X轴一维导轨（6）上设有滑块（8）、控制滑块（8）移动的丝杠和测量滑块（8）移动距离的光栅尺（7），所述测量显微镜（3）固定安装在所述滑块（8）上；所述光栅尺（7）与光栅尺数显表（9）连接，所述 CCD接收器（4）与图像显示器（10）连接；所述平行光管组件（1）包括光源、分划板、平行光管和物镜，所述分划板位于物镜的焦平面；所述测量显微镜（3）内设有十字分划板，所述CCD接收器（4）接收到的图像包括平行光管组件中的分划板的像和显微镜内十字分划线的像；所述平行光管组件内分划板上设有至少一对竖直方向上的平行线，最外侧的一对线的长度最长；测量过程中，通过移动X轴一维导轨（6）上的滑块（8）带动测量显微镜（3）和CCD接收器（4）移动，并采用光栅尺（7）来测量出移动距离，具体为通过观察十字线的像与分划板的像的最外侧的线的重合情况来调整测量显微镜（3）的位置，当十字线从分划板的像的最外侧的一条线上移动到另一条线上，显微镜（3）的移动距离即为分划板的像的最外侧的一对线的间隔距离y’，该距离通过光栅尺（7）读出，并通过光栅尺数显表（9）显示，最后根据公式f=f0（y’/y）来计算出被测透镜的焦距f，其中f0是平行光管物镜的焦距，y是位于平行光管物镜焦平面的分划板最外侧的一对刻线的间隔距离。