[发明专利]半导体器件以及包括该半导体器件的电阻测量系统和包括该半导体器件的测压仪表装置有效
| 申请号： | 201510647125.8 | 申请日： | 2015-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN105486434B | 公开（公告）日： | 2019-12-13 |
| 发明（设计）人： | 平井正人;林秀玲 | 申请（专利权）人： | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号： | G01L1/18 | 分类号： | G01L1/18;G01G3/142 |
| 代理公司： | 11256 北京市金杜律师事务所 | 代理人： | 李辉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的各个实施例涉及半导体器件以及包括该半导体器件的电阻测量系统和包括该半导体器件的测压仪表装置。根据一个实施例，一种半导体器件1包括：可变电流生成单元11，该可变电流生成单元11发出直流电流Idac，该直流电流Idac的数值根据来自桥接电路B1的一个测量节点的控制信号S1，其中压敏电阻元件R4的电阻数值的变化量ΔR4表现为在测量节点NA、NB之间的电位差ΔV；电位差确定单元12，该电位差确定单元12确定是否已经生成电位差ΔV；以及控制单元13，该控制单元13向可变电流生成单元11输出控制信号S1，从而使可变电流生成单元11发出直流电流Idac，该直流电流Idac的数值基于电位差确定单元12的确定结果D1来不生成电位差ΔV。 | ||
| 搜索关键词： | 电位差 半导体器件 可变电流 生成单元 直流电流 确定单元 测量节点 电阻测量系统 压敏电阻元件 测压仪表 控制信号 桥接电路 输出控制 变化量 电阻 表现 | ||
【主权项】：
1.一种半导体器件，包括：/n可变电流生成单元，所述可变电流生成单元发出根据来自桥接电路的第一测量节点和第二测量节点中的一个测量节点的控制信号的数值的直流电流，其中所述桥接电路中的压敏电阻元件的电阻数值的变化量表现为在所述第一测量节点与所述第二测量节点之间的电位差；/n电位差确定单元，所述电位差确定单元确定所述电位差是否落在预定数值的范围内；以及/n控制单元，所述控制单元基于所述电位差确定单元的确定结果向所述可变电流生成单元输出所述控制信号，从而使所述可变电流生成单元发出使得所述电位差落在所述预定数值的范围内的所述直流电流。/n
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