[发明专利]微电路大气中子单粒子翻转率的确定方法及系统有效
| 申请号： | 201510605252.1 | 申请日： | 2015-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN105718714B | 公开（公告）日： | 2019-01-25 |
| 发明（设计）人： | 王群勇;陈冬梅;陈宇 | 申请（专利权）人： | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50;H03K19/003 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 李相雨 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种微电路大气中子单粒子翻转率的确定方法及系统，以解决如何预计航空电子系统中的微电路在任务空间环境中的大气中子单粒子翻转率的问题。该方法包括：S1、计算微电路发生大气中子单粒子翻转的敏感截面；S2、计算任务应用环境的辐射应力；S3、根据所述敏感截面和所述任务应用环境的辐射应力，计算所述微电路在任务应用环境中的大气中子单粒子翻转率。本发明首先计算得到微电路发生大气中子单粒子翻转的敏感截面，然后结合任务应用环境的辐射应力，得到大气中子单粒子翻转率，进而指导微电路制造商、用户及相关的试验机构预估微电路在任务应用环境中的翻转率，从而为航空电子系统开展针对性防控措施提供基础数据。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 大气 中子 粒子 翻转 确定 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.微电路大气中子单粒子翻转率的确定方法，其特征在于，包括：S1、计算微电路发生大气中子单粒子翻转的敏感截面；S2、计算任务应用环境的辐射应力；S3、根据所述敏感截面和所述任务应用环境的辐射应力，计算所述微电路在任务应用环境中的大气中子单粒子翻转率；其中，所述步骤S2包括：S21、确定导致所述微电路发生单粒子翻转的大气中子的阈值能量；S22、确定所述微电路所在任务应用环境的高度、截止刚度和太阳活动状态；S23、根据所述阈值能量及所述任务应用环境的高度、截止刚度和太阳活动状态，计算所述任务应用环境的辐射应力。
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