[发明专利]用于光学元件的加速老化系统及透光度测试方法在审
| 申请号： | 201510580204.1 | 申请日： | 2015-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN106525391A | 公开（公告）日： | 2017-03-22 |
| 发明（设计）人： | 玛丽亚姆·雅思丹梅尔;威廉·凡德尔;叶怀宇;范供齐;钱诚;张国旗 | 申请（专利权）人： | 常州市武进区半导体照明应用技术研究院 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人： | 韩建伟,张永明 |
| 地址： | 213000 江苏省常*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于光学元件的加速老化系统及透光度测试方法。其中，该方法包括控温台或温箱，用于在老化过程中，为放置在其中的待老化光学元件提供满足预定温度条件的温度环境；温度控制器，用于在预设时间段内控制控温台上或温箱中的环境温度，使环境温度满足预定温度条件。本发明解决了相关技术中由于并没有统一的设备及标准用于实现LED光学元件加速老化，导致测试结果受不同老化环境的影响严重的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 元件 加速 老化 系统 透光 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种用于光学元件的加速老化系统，其特征在于，包括：控温台或温箱，用于在老化过程中，为放置在其中的待老化光学元件提供满足预定温度条件的温度环境；温度控制器，用于在预设时间段内控制所述控温台上或所述温箱中的环境温度，使所述环境温度满足所述预定温度条件。
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