[发明专利]利用料位量测装置量测料位高度的方法有效

专利信息
申请号: 201510566075.0 申请日: 2015-09-09
公开(公告)号: CN106525198B 公开(公告)日: 2019-04-19
发明(设计)人: 张良琪;黄军翰;林益助 申请(专利权)人: 桓达科技股份有限公司
主分类号: G01F23/284 分类号: G01F23/284
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 梁挥;祁建国
地址: 中国台湾新北*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明涉及利用料位量测装置量测料位高度的方法,包含:一料位量测装置的一探棒插入一容器;该料位量测装置发射一电磁波讯号;当该电磁波讯号接触一物料的一表面时,产生一第一反射讯号;当该电磁波讯号接触该探棒的一底端时,产生一第二反射讯号;一料位感测电路藉由该第一反射讯号及该第二反射讯号分别算出一第一走时差值及一第二走时差值;该料位感测电路藉由该第一走时差值、该第二走时差值及一预设空桶走时差值分别算出一第一料位高度及一第二料位高度;藉由该第一料位高度及该第二料位高度算出一第三料位高度以显示在一显示单元。本发明能提高料位量测装置的精确度,选取误差低的量测数据给使用者参考。
搜索关键词: 利用 料位量测 装置 量测料位 高度 方法
【主权项】:
1.一种利用料位量测装置量测料位高度的方法,其特征在于,包含:a.将一料位量测装置的一探棒插入一容器的一物料内;b.该料位量测装置发射一电磁波讯号,该电磁波讯号沿该探棒表面往该物料方向传递;c.当该电磁波讯号接触该物料的一表面时产生一第一反射讯号;d.该第一反射讯号沿该探棒回传至该料位量测装置的一料位感测电路;e.当该电磁波讯号接触该探棒的一底端时产生一第二反射讯号;f.该第二反射讯号沿该探棒回传至该料位感测电路;g.该料位感测电路利用该第一反射讯号计算出一第一走时差值;h.该料位感测电路利用该第二反射讯号计算出一第二走时差值;i.该料位感测电路利用该第一走时差值计算出一第一料位高度;j.该料位感测电路利用该第二走时差值及该料位感测电路的一预设空桶走时差值计算出一第二料位高度;k.该料位感测电路利用该第一料位高度及该第二料位高度计算出一第三料位高度;及l.该料位感测电路计算出该第三料位高度后,该料位感测电路传送该第三料位高度至一显示单元进行显示;其中一第三走时差值等于该第二走时差值与该预设空桶走时差值的差值。
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