[发明专利]一种用于探测多路复用涡旋光束的复合光栅及测量方法有效
| 申请号： | 201510566068.0 | 申请日： | 2015-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN105136289B | 公开（公告）日： | 2017-12-05 |
| 发明（设计）人： | 高春清;付时尧 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G02B5/18 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100081 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种新型的复合光栅以及使用该光栅探测多路复用涡旋光束的轨道角动量态的方法与装置。当涡旋光束照射到该复合光栅上时，通过观察远场衍射图案中高斯光束出现的位置即可得到涡旋光束的轨道角动量态。所述复合光栅的轨道角动量态的测量范围为‑24～+24，该范围可满足大部分情况下多路复用涡旋光束的探测。使用该复合光栅可迅速探测出多路复用涡旋光束的各轨道角动量成分，且当不同的复用涡旋光束入射时，光路无需重新调整，操作极为简便。这对未来光通信、光镊技术、量子通信等研究方面具有十分重要的意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 探测 多路复用 涡旋 光束 复合 光栅 测量方法 | ||
【主权项】：
一种用于测量多路复用涡旋光束的复合光栅，其特征在于，所述光栅为矩形，其由5×5达曼涡旋光栅与+12阶和‑12阶螺旋相位片的全息光栅分别叠加而成，当一束高斯光束照射到该复合光栅上时，远场衍射图案为一5×5的螺旋光束阵列，其角量子数分布从左上至右下分别为0～24和‑24～0。
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