[发明专利]一种优化波长矫正方法及采用该方法的分光测色仪

摘要

本发明公开了一种优化波长矫正方法，包括如下步骤测量标准白板在不同像元处的信号光强度；测量标准黑板在不同像元处的信号光强度；测量标准绿板在不同像元处的信号光强度；通过白板和黑板的采样结果，计算绿板在不同像元处的光谱反射曲线在仪器出厂前对仪器进行定标测量，取的最大值对应像元记录至仪器内部；在用户实际使用仪器时，每次开机后进行以上校正过程，得到的最大值对应像元，看与是否相同。

主权项

一种优化波长矫正方法，包括如下步骤：测量标准白板在不同像元处的信号光强度I′white‑pixel(npixel)；测量标准黑板在不同像元处的信号光强度I′black‑pixel(npixel)；测量标准绿板在不同像元处的信号光强度I′green‑pixel(npixel)；通过白板和黑板的采样结果，计算绿板在不同像元处的光谱反射曲线在仪器出厂前对仪器进行定标测量，取R′green‑pixel(npixel)的最大值对应像元npixel‑max记录至仪器内部；在用户实际使用仪器时，每次开机后进行以上校正过程，得到R′green‑pixel(npixel)的最大值对应像元n′pixel‑max，看n′pixel‑max与npixel‑max是否相同；如果相同，则证明仪器的传感器像元和波长之间的对应关系没有出现偏差；如果不相同则证明仪器的传感器像元和波长之间的对应关系出现了偏差，需要进行修正；正常偏差范围的确定方法为：将仪器放在一个恒温试验箱中，模拟仪器的使用温度从5℃变化为75℃，每变化10摄氏度进行一次测量，最大反射率的位置随温度变化，温度变化过程中，最大值对应像元的变化不会超过±3个像元；否则需要对像元和波长对应关系进行修正；像元和波长对应关系进行修正的方法：在出厂定标时得到像元和波长的对应关系为：λ＝A0+B1*npixel+B2*npixel2+B3*npixel3+B4*npixel4+B5*npixel5在仪器出厂前对仪器进行定标测量，取R′green‑pixel(npixel)的最大值对应像元 npixel‑max记录至仪器内部；在用户实际使用仪器时，每次开机需要对仪器进行校正，得到取R′green‑pixel(npixel)的最大值对应像元n′pixel‑max；取npixel‑max和n′pixel‑max的差值为Δn＝npixel‑max‑n′pixel‑max；修正后的像元和波长对应关系为：λ＝A0+B1*(npixel+Δn)+B2*(npixel+Δn)2+B3*(npixel+Δn)3+B4*(npixel+Δn)4+B5*(npixel+Δn)5。