[发明专利]光学材料折射率曲线测量方法及装置有效
| 申请号： | 201510562661.8 | 申请日： | 2015-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN105115940B | 公开（公告）日： | 2017-10-20 |
| 发明（设计）人： | 钟舜聪;张秋坤;钟剑锋 | 申请（专利权）人： | 福州大学 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 福州元创专利商标代理有限公司35100 | 代理人： | 蔡学俊 |
| 地址： | 350108 福建省福州市*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种光学材料折射率曲线测量方法及装置。该方法，首先通过一宽带光相干干涉系统测量待测光学材料不同波长的群折射率值；其次，通过一激光双缝干涉系统测量待测光学材料在一确定的激光的波长下对应的折射率值；最后，采用积分算法结合上述的测量结果对待测光学材料在整个波长范围的群折射率值进行计算，进而得到待测光学材料在整个波长范围的折射率曲线。本发明简化了传统复杂的操作，实现材料在整个波段的折射率曲线的简易测量，是一种快速便捷的高精度的实用性强的材料折射率测量方法。 | ||
| 搜索关键词： | 光学材料 折射率 曲线 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
一种光学材料折射率曲线测量方法，其特征在于：包括如下步骤，S1：通过一宽带光相干干涉系统测量待测光学材料在不同波长下的群折射率值；S2：通过一激光双缝干涉系统测量待测光学材料在一确定的激光的波长下对应的折射率值；S3：采用积分算法结合步骤S1及S2的测量结果对待测光学材料在整个波长范围的群折射率值进行计算，进而得到待测光学材料在整个波长范围的折射率曲线；所述积分算法公式如下：n(k0)*k0-n(k1)*k1=∫k1k0ng(k)dk]]>其中，是待测光学材料的待求折射率值，k0是所对应的波数，是待测光学材料在确定的激光的波长下对应的折射率值，k1是所对应的波数，ng(k)是待测光学材料的群折射率值，k是ng(k)所对应的波数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福州大学，未经福州大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510562661.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
