[发明专利]工业CT检测中小细节特征尺寸测量方法有效
申请号: | 201510562522.5 | 申请日: | 2015-09-07 |
公开(公告)号: | CN105092616B | 公开(公告)日: | 2017-09-12 |
发明(设计)人: | 张维国;倪培君;郭智敏;徐向群;齐子诚;乔日东;左欣 | 申请(专利权)人: | 中国兵器科学研究院宁波分院 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04 |
代理公司: | 宁波诚源专利事务所有限公司33102 | 代理人: | 袁忠卫,王莹 |
地址: | 315103 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明涉及一种工业CT检测中小细节特征尺寸测量方法,在扫描获取的检测工件CT图像中,选取包含细节特征的细节特征区域以及无明显缺陷的参考区域,分别对细节特征区域和参考区域内的像素CT值进行计算,然后将细节特征区域内每个像素的CT值相对于参考区域内所有像素的平均CT值的差,与细节特征区域内每个像素的等效标准偏差值进行比例计算,当比例值大于3时,则认定该像素为细节特征点,进而累加细节特征点的数量,从而获取细节特征点的面积,经过换算后获取等效圆直径,减去有效射束宽度值即可获得细节特征区域的直径。该工业CT检测中小细节特征尺寸测量方法应用灵活,识别度和测量精度高。 | ||
搜索关键词: | 工业 ct 检测 中小 细节 特征 尺寸 测量方法 | ||
【主权项】:
一种工业CT检测中小细节特征尺寸测量方法,其特征在于包括如下步骤:步骤一、开启工业CT系统并进行校准标定;步骤二、设定工业CT系统中的工艺扫描参数,包括重建矩阵H×H、重建范围D、射线源焦点尺寸a、单个探测器通道尺寸d、探测器通道间隔h、射线源到探测器距离L,射线源到转台中心距离q,工件材料等效钢系数α、射线等效能量数据,根据设定的工艺扫描参数对检测工件进行扫描;步骤三、工业CT系统生成检测工件的CT图像,观察CT图像中的各种细节特征,确定需要进行尺寸测量的细节特征;步骤四、在CT图像上选定能够包含一个细节特征且包括边界在内的细节特征区域W,统计计算细节特征区域内每个像素的CT值f(xi,yj),其中(xi,yj)∈W,确定细节特征区域内像素的最小CT值Min对应的像素位置(xmin,ymin);在CT图像中细节特征的附近,且无明显缺陷的工件图像上选择一参考区域C,统计计算参考区域内所有像素的CT值,确定参考区域内像素的最大CT值及最小CT值,计算参考区域内所有像素的平均CT值Aver,进而计算参考区域内像素的噪声标准偏差值Sd;步骤五、识别CT图像中的工件边界,以细节特征区域中像素的最小CT值Min对应的像素位置(xmin,ymin)为中心,自标定的0°方向开始旋转一周至360°方向,利用等效钢系数α、射线等效能量数据通过试验的方法,计算确定各角度A方向上与工件的等效钢厚度相关的标准偏差系数TA,0°≤A<360°,进而形成等效钢厚度数组;步骤六、按照步骤五中角度方向的标定,计算细节特征区域W内每个像素位置与标定0°方向间的夹角的角度A(xi,yj),然后计算细节特征区域W内每个像素对应的噪声参数值K:其中(xi,yj)∈W,为像素位置为(xi,yj)对应的角度方向A(xi,yj)上与等效钢厚度相关的标准偏差系数;设定缺陷点数的初始值num0=0,当K>n时,缺陷点数num累计加一,否则丢弃,其中n为经验噪声参数值;步骤七、根据工艺扫描参数计算单个像素面积的大小S以及有效射束宽度BW;S=(DH)2;]]>其中M=L/q;进而计算获取细节特征区域的直径Td:Td=2*num*Sπ-BW.]]>
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