[发明专利]选择读参数的方法及装置有效
| 申请号： | 201510548935.8 | 申请日： | 2015-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN106484557B | 公开（公告）日： | 2019-06-18 |
| 发明（设计）人： | 李斌 | 申请（专利权）人： | 联芯科技有限公司;大唐半导体设计有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10 |
| 代理公司： | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人： | 成丽杰 |
| 地址： | 200233 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及电子设备技术领域，公开了一种选择读参数的方法及装置。本发明中，选择读参数的方法，包含以下步骤：降低存储器与应用处理器的输出驱动能力；对存储器进行数据的读操作，并选出错误的读参数，如果选不出错误的读参数，则继续降低存储器与应用处理器的输出驱动能力，直至选出错误的读参数；其中，错误的读参数对应的时钟信号为第一时钟信号；从第一时钟信号所在的采样周期内，选择第二时钟信号对应的采样点的读参数；其中，第二时钟信号与所述第一时钟信号相隔预设时长。这样，能够正确有效地挑选出存储器的读参数，解决由于读参数挑选不合理导致的系统死机的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 选择 参数 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种选择读参数的方法，其特征在于，包含以下步骤：降低存储器与应用处理器的输出驱动能力；对所述存储器进行数据的读操作，并选出错误的读参数，如果选不出错误的读参数，则继续降低所述存储器与应用处理器的输出驱动能力，直至选出错误的读参数；其中，所述错误的读参数对应的时钟信号为第一时钟信号；从所述第一时钟信号所在的采样周期内，选择第二时钟信号对应的采样点的读参数；其中，所述第二时钟信号与所述第一时钟信号相隔预设时长，所述预设时长为二分之一的采样周期。
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