[发明专利]天线反射面表面精度的测量装置有效

专利信息
申请号: 201510541400.8 申请日: 2015-08-27
公开(公告)号: CN105588536B 公开(公告)日: 2018-09-28
发明(设计)人: 窦华土;张君;赵李刚;阳恩主;周亦恒 申请(专利权)人: 广东通宇通讯股份有限公司
主分类号: G01B21/30 分类号: G01B21/30
代理公司: 洛阳公信知识产权事务所(普通合伙) 41120 代理人: 孙笑飞
地址: 528400 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种天线反射面表面精度的测量装置,包括:固定座,用于安装固定待测天线反射面;检测机构,所述检测机构相对所述固定座设置,用于对安装固定于所述固定座的待测天线反射面上至少一组测试点的表面平整度相应进行测量。通过上述实施方式,其结构简单,能够同步且自动的一次性精确测量天线反射面上多个测试点的表面平整度。
搜索关键词: 天线 反射 表面 精度 测量 装置
【主权项】:
1.一种天线反射面表面精度的测量装置,其特征在于,包括:固定座,用于安装固定待测天线反射面,所述固定座是定心底座;检测机构,所述检测机构相对所述固定座设置,用于对安装固定于所述固定座的待测天线反射面上至少一组测试点的表面平整度相应进行测量;以及转动机构,用于驱动所述检测机构与所述定心底座相对转动;所述定心底座包括安装盘、凸起设置于所述安装盘中央的环形台阶以及设置于所述环形台阶中央的轴向伸缩机构,所述环形台阶侧壁沿圆周方向均匀设置有多个贯通孔,所述贯通孔中相应穿设有机械手指,所述机械手指一端抵接所述轴向伸缩机构并可在所述轴向伸缩机构的驱动下径向伸出所述贯通孔。
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