[发明专利]一种基于π/4相移的多光束干涉相位提取方法有效
申请号: | 201510522017.8 | 申请日: | 2015-08-24 |
公开(公告)号: | CN106482633B | 公开(公告)日: | 2019-01-18 |
发明(设计)人: | 高志山;成金龙;王伟;王凯亮;王帅;袁群;窦建泰;朱丹 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | G01B9/02 | 分类号: | G01B9/02 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 朱显国 |
地址: | 210094 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于π/4相移的多光束干涉相位提取方法,首先基于多光束干涉光强的分析,建立了多光束干涉光强近似分布模型;在此基础上,结合载频交叠重构理论,提出了π/4相移算法,实现了高阶谐波分量和移相误差分量与相位分量在频谱域的分离,频谱滤波后提取得到待测相位分布,同时解决了斐索干涉仪测量反射系数高于参考镜反射系数的光学元件时多光束干涉和随机相移所引入误差的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 相移 光束 干涉 相位 提取 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于π/4相移的多光束干涉相位提取方法,其特征在于,方法步骤如下:第一步:通过斐索干涉仪(1)测试待测镜(3)时,调整待测镜(3)倾角,在干涉图中引入线载频量为fc的线载频条纹,获得一组8帧移相步进量为π/4的多光束移相干涉图;第二步:根据载频交叠重构理论,判断上述多光束移相干涉图的线载频条纹是否偏向纵向条纹,若是,则按照横向条纹的方向依次交错排列;若否,则按照纵向条纹的方向依次交错排列;得到一幅扩展后的多光束干涉时空条纹图;第三步:对上述扩展后的多光束干涉时空条纹图进行傅里叶变换得到时空条纹图的频谱分布;第四步:对上述时空条纹图的频谱中选择位于第二步中排列方向的正向,且距离原点d/8处的相位谱进行带通滤波,其中d为频谱在排列方向上的总长,滤除多光束干涉中的高阶谐波分量和移相误差分量,得到相位分量;第五步:对上述相位分量进行傅里叶逆变换,得到其压包扩展相位,将压包扩展相位按照第二步中的排列方式,进行逆向提取,恢复到原始相位大小的压包相位,通过对其解包操作最终获得待测相位信息。
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