[发明专利]用于集成闪存器件和高k金属栅极逻辑器件的凹进的硅化物结构有效
| 申请号: | 201510514942.6 | 申请日: | 2015-08-20 |
| 公开(公告)号: | CN105390498B | 公开(公告)日: | 2019-04-23 |
| 发明(设计)人: | 庄学理;吴伟成;刘世昌;高雅真 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L27/11517 | 分类号: | H01L27/11517;H01L27/11563;H01L21/762;H01L29/06 |
| 代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;李伟 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明的一些实施例提供了用于嵌入式闪存单元的集成电路(IC)。IC包括具有存储单元栅极的闪存单元。硅化物接触衬垫布置在存储单元栅极的凹槽中。硅化物接触衬垫的顶面相对于存储单元栅极的顶面是凹进的。电介质侧壁间隔件沿着凹槽的侧壁从存储单元栅极的顶面延伸至硅化物接触衬垫的顶面。本发明还提供了一种制造嵌入式闪存器件的方法。 | ||
| 搜索关键词: | 用于 集成 闪存 器件 金属 栅极 逻辑 凹进 硅化物 结构 | ||
【主权项】:
1.一种用于嵌入式闪存器件的集成电路(IC),所述集成电路包括:闪存单元,具有存储栅极,具有从所述存储栅极的侧壁突出的第一存储栅极、第二存储栅极和第三存储栅极,其中,两个伪选择栅极与所述第一存储栅极、所述第二存储栅极和所述第三存储栅极交错,所述第一存储栅极将所述第二存储栅极和所述第三存储栅极分离并且所述第一存储栅极相对于所述第二存储栅极的顶面和所述第三存储栅极的顶面具有凹进的上表面;硅化物接触衬垫,布置在所述第一存储栅极上方,其中,所述硅化物接触衬垫的顶面相对于所述第二存储栅极的顶面是凹进的;以及电介质侧壁间隔件,位于所述第一存储栅极的上表面上并且从所述第二存储栅极的顶面延伸至所述硅化物接触衬垫的顶面。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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