[发明专利]基于掩膜的冷冻电镜三维密度图分辨率检测方法有效
| 申请号： | 201510495697.9 | 申请日： | 2015-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN105069797B | 公开（公告）日： | 2017-08-15 |
| 发明（设计）人： | 沈红斌;王帅 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/10 |
| 代理公司： | 上海交达专利事务所31201 | 代理人： | 王毓理,王锡麟 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种基于掩膜的冷冻电镜三维密度图分辨率检测方法，通过三维二值掩膜对冷冻电镜重构的三维密度图进行分割，分别计算三维密度图的膜内颗粒结构部分和膜外背景噪声部分基于傅里叶空间三维球壳的半径功率谱，得到三维密度图的信号功率和噪声功率，进而通过光谱信噪比计算得到的基于掩膜的光谱信噪比曲线和选定的阈值得到全局分辨率的估计值，实现对冷冻电镜的重构质量的评测；本发明可直接从冷冻电镜重构的三维密度图估计分辨率，算法简单易行，有较大的应用空间。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 冷冻 三维 密度 分辨率 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种基于掩膜的冷冻电镜三维密度图分辨率检测方法，其特征在于，通过三维二值掩膜对冷冻电镜重构的三维密度图进行分割，分别计算三维密度图的膜内颗粒结构部分和膜外背景噪声部分基于傅里叶空间三维球壳的半径功率谱，得到三维密度图的信号功率和噪声功率，进而通过光谱信噪比计算得到的基于掩膜的光谱信噪比曲线和选定的阈值得到全局分辨率的估计值，实现对冷冻电镜的重构质量的评测；所述的半径功率谱是指：密度图的功率在傅里叶空间频率上的分布，即：RPS(s)＝∑k|Shell(s)|M(k)|2，其中：s是傅里叶空间三维球壳的半径，即为频率，该频率的倒数即为分辨率，k为傅里叶空间的坐标向量，Shell(s)为半径为s的三维球壳，M(k)为三维密度图的傅里叶变换。
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