[发明专利]半色调相移光掩模坯料及其制备方法有效
| 申请号: | 201510484664.4 | 申请日: | 2015-08-04 |
| 公开(公告)号: | CN105334693B | 公开(公告)日: | 2019-03-05 |
| 发明(设计)人: | 高坂卓郎;稻月判臣;金子英雄;樱田丰久 | 申请(专利权)人: | 信越化学工业株式会社 |
| 主分类号: | G03F1/32 | 分类号: | G03F1/32;G03F1/26 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 杜丽利 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 半色调相移光掩模坯料,包含透明基材和由硅、氮和任选的氧组成的半色调相移膜,并提供相对于波长200nm以下的光150°‑200°的相移。该相移膜包括至少一个满足下式的层:2×O/Si+3×N/Si≥3.5,其中Si为硅含量(原子%),N为氮含量(原子%),且O为氧含量(原子%)。该相移膜表现出令人满意的透射率的面内均匀性。 | ||
| 搜索关键词: | 色调 相移 光掩模 坯料 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.半色调相移光掩模坯料,包含透明基材和在其上的半色调相移膜,所述半色调相移膜由硅和氮,或者硅、氮和氧组成,并且相对于波长200nm以下的光提供150°‑200°的相移,所述半色调相移膜为满足式(1)的单层或由全部满足式(1)的层组成的多层膜:2×O/Si+3×N/Si≥3.5 (1)其中Si为硅的原子%含量,N为氮的原子%含量,且O为氧的原子%含量,氮含量为53原子%以下。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于信越化学工业株式会社,未经信越化学工业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510484664.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备





