[发明专利]半色调相移光掩模坯料及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201510484664.4 申请日: 2015-08-04
公开(公告)号: CN105334693B 公开(公告)日: 2019-03-05
发明(设计)人: 高坂卓郎;稻月判臣;金子英雄;樱田丰久 申请(专利权)人: 信越化学工业株式会社
主分类号: G03F1/32 分类号: G03F1/32;G03F1/26
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 杜丽利
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 半色调相移光掩模坯料,包含透明基材和由硅、氮和任选的氧组成的半色调相移膜,并提供相对于波长200nm以下的光150°‑200°的相移。该相移膜包括至少一个满足下式的层:2×O/Si+3×N/Si≥3.5,其中Si为硅含量(原子%),N为氮含量(原子%),且O为氧含量(原子%)。该相移膜表现出令人满意的透射率的面内均匀性。
搜索关键词: 色调 相移 光掩模 坯料 及其 制备 方法
【主权项】:
1.半色调相移光掩模坯料,包含透明基材和在其上的半色调相移膜,所述半色调相移膜由硅和氮,或者硅、氮和氧组成,并且相对于波长200nm以下的光提供150°‑200°的相移,所述半色调相移膜为满足式(1)的单层或由全部满足式(1)的层组成的多层膜:2×O/Si+3×N/Si≥3.5  (1)其中Si为硅的原子%含量,N为氮的原子%含量,且O为氧的原子%含量,氮含量为53原子%以下。
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