[发明专利]一种利用光纤光栅进行精密位移的方法及其装置在审

专利信息
申请号: 201510482872.0 申请日: 2015-08-10
公开(公告)号: CN105222713A 公开(公告)日: 2016-01-06
发明(设计)人: 李忠志;王彬 申请(专利权)人: 西安盛佳光电有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 710119 陕西省西安*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种利用光纤光栅进行精密位移的方法及其装置。现有的光栅尺采用莫尔条纹原理制成,其最高精度只能达到微米级别,并且价格昂贵,不适宜大范围推广使用。本发明提供的一种利用光纤光栅进行精密位移的方法是将光纤光栅上任意两点的信道之间位移转化为该两点信道的信道间隔变化量进行输出;同时还提供一种利用光纤光栅进行精密位移利用该方法制作的装置,包括光纤光栅和解调仪,光纤光栅上设置有沿光纤光栅表面移动的光电探测器,光电探测器与解调仪通信连接。本发明采用光纤光栅的纳米级特性原理制成,相对于传统的莫尔条纹光栅尺,其精度高、价格便宜、对使用环境的要求低、易于大范围推广使用。
搜索关键词: 一种 利用 光纤 光栅 进行 精密 位移 方法 及其 装置
【主权项】:
一种利用光纤光栅进行精密位移的方法,是将光纤光栅上任意两点信道之间的位移量转化为该两点信道之间的信道间隔变化量进行输出。
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