[发明专利]一种识别复合材料制品内部缺陷类型的无损检测方法有效
| 申请号： | 201510482808.2 | 申请日： | 2015-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN105021636B | 公开（公告）日： | 2018-01-23 |
| 发明（设计）人： | 王从科;凡丽梅;赵付宝;李金鹿;张霞;郑素萍 | 申请（专利权）人： | 中国兵器工业集团第五三研究所 |
| 主分类号： | G01N23/046 | 分类号： | G01N23/046 |
| 代理公司： | 济南舜源专利事务所有限公司37205 | 代理人： | 苗峻 |
| 地址： | 250031 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明属于无损检测技术领域。利用复合材料制品内部缺陷区域和非缺陷区域与CT密度值的关系，通过预置缺陷的方式，得出不同类型缺陷对应的CT密度降值；通过比对CT密度降值，识别缺陷的类型。本发明涉及的采用无损检测方法识别复合材料制品内部缺陷类型的方法，包含工业CT检测系统校准、断层CT检测与密度降值计算、缺陷类型识别过程，对样品进行断层CT检测与密度降值计算，将缺陷区域的CT密度降值与已知缺陷的CT密度降值进行比较，得出缺陷类型。该方法，操作方便、可靠性高、适用性广、识别速度快，人为误判少等优点。适用于复合材料制品内部缺陷的X射线断层CT无损检测领域，特别适用于复合材料制品内部缺陷类型的识别。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 识别 复合材料 制品 内部 缺陷 类型 无损 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种采用无损检测方法识别复合材料制品内部缺陷类型的方法，包含工业CT检测系统校准、断层CT检测与密度降值计算、缺陷类型识别过程，其特征在于：断层CT检测与密度降值计算：将样品置于转台中心，进行断层CT检测，检测参数为CT切片厚度0.5mm～1.5mm、射线源焦点尺寸0.5mm～2.5mm、管电压100kV～450kV、管电流1.5mA～5.5mA、积分时间10ms～40ms、行合并数5～15，分别得出非缺陷区域和缺陷区域的CT密度值，按公式(1)计算缺陷区域的CT密度降值；缺陷类型识别：将缺陷区域的CT密度降值与已知缺陷的CT密度降值进行比较，得出缺陷类型；已知缺陷的CT密度降值为：分层缺陷的CT密度降值5％～30％；气孔缺陷的CT密度降值＞30％；高密度夹杂缺陷的CT密度降值＜0，所述高密度夹杂是指其密度大于复合材料本体密度。
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