[发明专利]全面测量显示器的方法在审
| 申请号： | 201510466139.X | 申请日： | 2015-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN106710493A | 公开（公告）日： | 2017-05-24 |
| 发明（设计）人： | 张家豪;连丰国;吴忠翰;郑惟仁;周义儒;李易达;李依珊;李亮贤;庆沛先 | 申请（专利权）人： | 冠捷投资有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京汉德知识产权代理事务所(普通合伙)11328 | 代理人： | 刘子文,陈曦 |
| 地址： | 中国香港九龙观塘108号伟*** | 国省代码： | 香港;81 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种全面测量显示器的方法，其包含一全面测量手段，对显示器的每个像素进行全阶段的反应时间的测量；一规格制作手段，将测量到的反应时间中的极限值制作成一特性信息；及一结合手段，该结合手段将该特性信息结合于显示器上，作为产品规格信息。藉由上述步骤所完成的显示器，其上将记载有最快反应时间的特性信息，使用者可快速地比较相同性质的产品，另一方面这样的方法可广泛应用于当今及未来所开发出的显示器，使整体使用上不会受到限制。 | ||
| 搜索关键词： | 全面 测量 显示器 方法 | ||
【主权项】：
一种全面测量显示器的方法，其特征在于，其包括：一全面测量手段，对显示器的每个像素进行全阶段的反应时间的测量；一规格制作手段，将测量到的反应时间中的极限值制作成一特性信息；及一结合手段，将该特性信息结合于显示器上，作为产品规格信息。
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