[发明专利]基于同位素稀释质谱定量的放射性核素半衰期测定方法有效

专利信息
申请号: 201510465514.9 申请日: 2015-07-31
公开(公告)号: CN105067594B 公开(公告)日: 2018-03-30
发明(设计)人: 徐江;李志明;汪伟;李静雅;韦冠一;粟永阳 申请(专利权)人: 西北核技术研究所
主分类号: G01N21/71 分类号: G01N21/71
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司61211 代理人: 王少文
地址: 71002*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供基于同位素稀释质谱定量的放射性核素半衰期测定方法,采用同位素质谱的方法,重点目标瞄准半衰期为1年至103年(有特殊需求情况下,可通过调整存放时间拓展至半衰期为数月或104年以上)的核素,本发明基于母子体的放化分离和质谱测试技术,通过高精度测定放射性核素在存放时间内含量的变化计算核素的半衰期,回避了放射性射线分之比、效率校正等过程可能产生的不确定度,提高了部分放射性核素半衰期测量的准确度。
搜索关键词: 基于 同位素 稀释 定量 放射性 核素 半衰期 测定 方法
【主权项】:
基于同位素稀释质谱定量的放射性核素半衰期的测定方法,其特征在于:包括以下步骤:1)取半衰期大于1年的放射性核素,配置成溶液;或直接取半衰期大于1年的放射性核素溶液;2)在溶液中分别添加放射性核素母核同位素稀释剂,采用放化分离纯化技术,制备该放射性核素溶液中母体元素溶液样品;3)采用同位素稀释质谱法,测定母体元素溶液样品中放射性核素母核的核数含量N1;4)经存放时间t后,再次进行放射性溶液的纯化和同位素稀释质谱法定量,测定母核的核数含量N2;其中的时间t大于该放射性核素半衰期的1%;5)由两次定量结果和准确记录的存放时间t,由下式计算该核素半衰期:T1/2=tln(2)ln(N1/N2).]]>
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