[发明专利]一种硅基异质结电池片及其TiNx阻挡层的制备方法有效

专利信息
申请号: 201510442598.4 申请日: 2015-07-24
公开(公告)号: CN106356418B 公开(公告)日: 2018-05-04
发明(设计)人: 黄辉明;宋广华;罗骞 申请(专利权)人: 钧石(中国)能源有限公司
主分类号: H01L31/072 分类号: H01L31/072;H01L31/028;H01L31/20
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摘要: 发明公开了一种硅基异质结电池片及其TiNx阻挡层的制备方法,包括在N型硅衬底正面沉积本征非晶硅层及P型非晶硅薄膜层,反面沉积本征非晶硅层及N型非晶硅薄膜层的硅片;在所述P型非晶硅薄膜层及N型非晶硅薄膜层上沉积透明导电氧化物薄膜;在所述透明导电氧化物薄膜采用低温磁控溅射法沉积TiNx阻挡层。本发明增加了Cu与透明导电氧化物薄膜层的附着力,有利于后续异质结太阳能电池的封装,还可以有效的阻挡铜的扩散,非电极栅线区域的TiNx阻挡层易于被溶液腐蚀,且TiNx阻挡层电阻率低、厚度易控制。
搜索关键词: 一种 硅基异质结 电池 及其 tinx 阻挡 制备 方法
【主权项】:
一种硅基异质结电池片的制备方法,其特征在于,包括:在N型硅衬底正面沉积本征非晶硅层及P型非晶硅薄膜层,反面沉积本征非晶硅层及N型非晶硅薄膜层的硅片;在所述P型非晶硅薄膜层及N型非晶硅薄膜层上沉积透明导电氧化物薄膜;在所述透明导电氧化物薄膜上采用低温磁控溅射法沉积TiNx阻挡层;在所述TiNx阻挡层上溅射沉积铜种子层;覆盖掩膜层,将铜种子层曝光出电极栅线图,并用显影液将电极栅线图显现;在电极栅线图区域电镀上金属铜;去除掩膜层和电极栅线图区域外的铜种子层和TiNx阻挡层;所述低温磁控溅射法采用纯度为99%~99.99%的Ti靶;所述低温磁控溅射法在本底真空度为9*10‑3~1*10‑2Pa的真空腔内通入Ar和N2的混合气体,维持真空腔室工艺真空度在0.3Pa~0.8Pa,并保持功率密度1.5~3.5w/cm2、电流为15~18A的等离子体状态;所述Ar和N2的混合气体比例为1:3~1:1。
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