[发明专利]微机电构件和用于微机电构件的制造方法有效

专利信息
申请号: 201510437037.5 申请日: 2015-07-23
公开(公告)号: CN105293418B 公开(公告)日: 2019-06-04
发明(设计)人: J·赖因穆特 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: B81B3/00 分类号: B81B3/00;B81B7/02;B81C1/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 曾立
地址: 德国斯*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种MEMS构件,其具有:衬底,在该衬底中从功能性上侧起构造空腔;埋藏式多晶硅层,在该多晶硅层中松弛地安置有作为第一电极的多晶硅膜片,所述多晶硅膜片至少部分地覆盖该空腔;Epi多晶硅层,在该Epi多晶硅层中松弛地安置有作为第二电极的电极结构,该电极结构在该多晶硅膜片上间距一自由空间地布置;通道开口,该通道开口流动地连接该MEMS构件的外部环境和该空腔,在该埋藏式多晶硅层、该Epi多晶硅层和/或该衬底的空腔的内壁中构造有一个或多个通道,所述通道连接该通道开口和该空腔,并且通道宽度不大于5微米。
搜索关键词: 微机 构件 用于 制造 方法
【主权项】:
1.一种MEMS构件,其具有:‑衬底(1),在该衬底中,从功能性的上侧起构造有空腔(50);‑埋藏式多晶硅层(3),在该多晶硅层中松弛地安置有多晶硅膜片(12)作为第一电极,所述多晶硅膜片至少部分地覆盖所述空腔(50);‑Epi多晶硅层(2),在该Epi多晶硅层中松弛地安置有导电结构(13)作为第二电极,该导电结构间隔了自由空间(7)地布置在所述多晶硅膜片(12)上方;和‑通道开口(20),该通道开口使所述MEMS构件的外部环境与所述空腔(50)在流体方面连接,其中,在所述埋藏式多晶硅层(3)、所述Epi多晶硅层(2)和/或所述衬底(1)的空腔(50)的内壁中构造有一个或多个通道(14;51;52),所述通道使所述通道开口(20)与所述空腔(50)连接,并且,所述通道的通道宽度不大于5微米,并且,所述通道(14;51;52)具有至少1:4的外观比例,其中,所述通道(14;51;52)狭窄且长地设计,从而阻止或者至少强烈地阻碍了液体、湿气和/或外来颗粒的进入。
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