[发明专利]偏光片以及用于制造偏光片的方法有效

专利信息
申请号: 201510420431.8 申请日: 2015-07-16
公开(公告)号: CN105319637B 公开(公告)日: 2019-06-04
发明(设计)人: 吕宗勳 申请(专利权)人: 三星SDI株式会社
主分类号: G02B5/30 分类号: G02B5/30;G02B1/14;G02B1/04;G02B1/11
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 杨贝贝;臧建明
地址: 韩国京畿道龙仁*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明涉及一种偏光片以及用于制造偏光片的方法。一种偏光片,其包含偏光器和形成于偏光器的至少一个表面上的保护膜,其中偏光片的横向方向(transverse direction,TD)收缩应力比SRA的范围介于1%到10%,如根据等式1所计算:SRA(%)=(S1/S2)×100‑‑‑(1)其中S1是保护膜的TD收缩应力并且S2是偏光器的TD收缩应力。本发明的实施例可以提供偏光片,其中偏光片的卷曲经控制以容易处理膜。
搜索关键词: 偏光 以及 用于 制造 方法
【主权项】:
1.一种偏光片,其包括:偏光器;以及聚酯保护膜,其形成于所述偏光器的至少一个表面上,其中所述偏光片的横向方向收缩应力比SRA的范围介于1%到10%,如根据等式1所计算:SRA(%)=(S1/S2)×100‑‑‑(1)其中S1是所述聚酯保护膜的横向方向收缩应力并且S2是所述偏光器的横向方向收缩应力,其中所述偏光器具有0.5N/10mm到10.0N/10mm的横向方向收缩应力S2,并且所述聚酯保护膜具有0.005N/10mm到1.0N/10mm的横向方向收缩应力S1,其中所述偏光片在23℃和55%RH下测量具有+4.0mm到‑4.0mm的卷曲高度,其中横向方向收缩应力是使用具有加工方向的80mm的长度和10mm的横向方向宽度的矩形样本以测量,样本在横向方向上在其两侧紧固到收缩应力测量仪器并且在80℃下静置100分钟以测量。
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