[发明专利]偏光膜检查装置有效

专利信息
申请号: 201510414153.5 申请日: 2015-07-15
公开(公告)号: CN106345708B 公开(公告)日: 2018-10-23
发明(设计)人: 郑钟和;全荣锡;方相文;马延守 申请(专利权)人: 明眼有限公司
主分类号: B07C5/342 分类号: B07C5/342
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 瞿卫军;刘成春
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明涉及一种偏光膜检查装置,其包括:灰尘清除单元(10),清除偏光膜(S)的表面上所贴附的灰尘;正透射检查单元(20),在上部配备第一相机(21),在下部则配备第一照明(22),检测偏光膜(S)是否不良;正反射检查单元(30),在上部配置第二相机(31)及第二照明(32),检查偏光膜(S)的倒置与否及气泡存在与否;图案检查单元(40),照射特定图案而检查偏光膜(S)的敲痕、被压及异物;不良品挑选单元(50),利用空气喷射喷嘴(51)的喷射压力把不良偏光膜(S)移动到位于下部的不良品装载框(52);装载单元(60),装载不良品挑选单元(50)没有挑选的良品。
搜索关键词: 偏光 检查 装置
【主权项】:
1.一种偏光膜检查装置,其特征在于,包括:灰尘清除单元(10),为了清除由输送带(1、2)水平移送的偏光膜(S)的表面上所贴附的灰尘而在上部与下部成双地配备粘结辊(11、12);正透射检查单元(20),为了针对清除了灰尘的上述偏光膜(S)的前工序不良标识或产品编号进行挑选而在上部配备第一相机(21),为了在偏光膜(S)的底面照射透射光而在下部配备第一照明(22);正反射检查单元(30),为了针对通过了上述正透射检查单元(20)的偏光膜(S)检查产品倒置与否及气泡存在与否而在上部分别配置第二相机(31)及第二照明(32);图案检查单元(40),为了针对通过了上述正反射检查单元(30)的偏光膜(S)进行敲痕、被压及异物检查而照射特定图案;不良品挑选单元(50),利用空气喷射喷嘴(51)的喷射压力把上述图案检查过程中被判定为不良的偏光膜(S)移动到位于下部的不良品装载框(52);装载单元(60),把上述不良品挑选单元(50)没有挑选的良品另行装载到良品装载框(62)。
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